分子存储器件 - 产品信息 - 相关知识

2025-01-21 09:30:22分子存储器件: 分子存储器件是一种基于分子水平的新型存储技术，它利用特定的分子结构或性质来存储信息。与传统的电子存储设备相比，分子存储器件具有更高的存储密度、更快的读写速度和更低的能耗。这种器件通过改变分子的状态（如构象、电荷、自旋等）来记录信息，从而实现数据的存储与读取。分子存储器件在数据存储领域具有巨大的潜力，有望在未来成为主流存储技术之一，为大数据、云计算等领域提供更加高效、可靠的存储解决方案。

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金属间电荷转移的研究为分子电子器件的设计提供了新思路

相同价态但不同自旋态金属簇单元间金属—金属电荷转移，为电子转移现象和分子电子器件的合理设计提供了新思路。

2512
2019-11-02
分子导线分子开关分子存储器件

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分子存储器件问答

2023-02-01 14:56:12蔡司激光共聚焦显微镜-微纳器件的表征分析: 对微纳器件进行表征时，常关注的便是器件的表面形貌和三维尺寸信息，比如粗糙度、深度、体积等，这些都是评价微纳加工工艺的重要指标。然而，在进行表面三维的分析工作中，我们可能常遇到这样的苦恼：　　光学明场无法直接定位到亚微米级缺陷结构!　　样品结构太复杂，微弱信号无法捕获，难以准确测量尺度信息!　　三维接触式测量经常会损伤柔软样品，导致测试结果不准确!　　今天，友硕小编将从下面几个角度来看看蔡司激光共聚焦显微镜如何帮助你更好地解决这些问题。　　失效分析：多尺度多维度原位分析!　　器件表面往往存在一些特殊的结构或缺陷，比如亚微米尺度的划痕，这些特征难以在光学明场下被直接观察到。C-DIC(圆微分干涉)观察模式可以让样品表面亚微米尺度的微小起伏都可以呈现出浮雕效果，帮助我们快速定位并开展下一步的分析工作。　　▲ 不同观察方式下晶圆表面缺陷　　在定位到感兴趣区域后，可以直接切换到共聚焦模式，进行表面三维形貌扫描，并进行尺寸测量及分析，无需转移样品即可完成样品多尺度多维度的表征。　　▲共聚焦三维图像及深度测量　　对于某些样品，暗场和荧光模式也是一种很好定位方法，表面起伏的结构在暗场下尤其明显，如蓝宝石这类能发荧光的晶圆，利用荧光成像也能帮助我们快速地定位到失效结构。甚至，共聚焦还可以和电镜或者双束电镜(FIB)(点击查看)实现原位关联，在共聚焦显微镜下进行定位后转移样品到电镜下进行更高分辨的表征分析。　　深硅刻蚀：结构深，信号弱，蔡司激光共聚焦显微镜有办法!　　深硅刻蚀的样品通常为窄而深的沟壑结构。接触式测量(如台阶仪)无法接触到沟壑底部测得信息，而由于结构特殊造成了反射光信号损失，常规白光干涉或者显微明场无法捕获底面的微弱信号。因此，不得不对样品进行裂片分析，这不仅破坏了样品，而且还使分析流程复杂化。　　西湖大学张先锋老师用蔡司激光共聚焦显微镜对深163.905 μm，宽3.734μm的刻蚀坑进行成像，高灵敏探测器、大功率激光及Z Brightness Correction技术可以帮助成功检测到底部的微弱信号，完成大深宽比(近50：1)样品的三维形貌表征与测量，轻松实现无损检测分析。

2024-11-05 16:24:59热裂解仪分析分子的方法与过程是什么？: 裂解仪（Pyrolyzer）是一种广泛应用于高温下对有机物进行热解的实验仪器，主要用于研究和分析材料在热分解过程中产生的分子组成。热裂解分子方法是一种通过加热将样品分解为较小的分子或化合物的方法，它能够提供丰富的化学反应信息。本文将探讨热裂解仪分子方法的工作原理、技术优势及其在不同领域中的应用，以帮助研究人员和工程师更好地理解这一技术的应用价值。热裂解仪分子方法的工作原理热裂解仪分子方法的核心原理是通过控制温度在无氧或极少氧气的环境下将样品加热至高温，从而打破有机物的化学键，分解为各种小分子产物。这一过程通常在700°C至1000°C之间进行，根据不同的研究目标和样品特性，温度和裂解时间可以精确调控。热裂解仪结合气相色谱（GC）或质谱（MS）等检测技术，能够对裂解后的产物进行定性和定量分析，揭示出样品中各个组分的分子结构与成分信息。热裂解仪分子方法的技术优势热裂解仪分子方法作为一种高效的分析技术，具有以下几个显著优势：高效性与快速性：相比于传统的化学分析方法，热裂解仪分子方法能够在极短的时间内完成样品分析。通过精确控制裂解温度和时间，研究人员能够快速获得样品的分解产物，并进行后续分析。广泛适用性：热裂解仪适用于各种类型的有机材料，包括塑料、橡胶、石油产品、生物质材料等。通过选择不同的裂解条件，可以针对不同的样品进行优化分析，获取所需的分子信息。高灵敏度与高分辨率：热裂解仪能够分析复杂的化学混合物，即使是微量的有机化合物也能被有效检测。结合高分辨率的质谱和色谱技术，分析结果能够提供极为细致的分子成分。无损分析：热裂解仪分子方法通常不需要对样品进行大规模预处理，可以保留原样本的完整性，从而避免了其他方法中可能出现的样品损失。热裂解仪分子方法的应用领域热裂解仪分子方法已被广泛应用于多个领域，尤其在环境监测、材料科学、石油化工和生物技术等行业，发挥着重要作用：环境分析：热裂解仪能够有效地分析土壤、水样和空气中的污染物，例如塑料污染物或石油泄漏物。材料科学：在高分子材料和复合材料的研究中，热裂解仪常用于分析聚合物的降解过程，揭示材料在不同温度下的分解行为及其产物。这对于材料的改性、质量控制及新材料的研发具有重要价值。石油化工：在石油和天然气行业，热裂解仪被用来分析原油、天然气和石化产品的分子结构。生物技术：通过分析生物质的热裂解产物，热裂解仪可以为生物能源的开发提供重要数据。

2022-12-05 13:11:13TOF-SIMS在光电器件研究中的应用系列之三: 一、引言光伏发电新能源技术对于实现碳中和目标具有重要意义。近年来，基于有机-无机杂化钙钛矿的光电太阳能电池器件取得了飞速的发展，目前报道的最高光电转化效率已接近26%。卤化物钙钛矿材料具有无限的组分调整空间，因此表现出优异的可调控的光电性质。然而，由于多组分的引入，钙钛矿材料生长过程中会出现多相竞争问题，导致薄膜初始组分分布不均一，这严重降低了器件效率和寿命。图1. 钙钛矿晶体结构二、TOF-SIMS应用成果由于目前用于高性能太阳能电池的混合卤化物过氧化物中的阳离子和阴离子的混合物经常发生元素和相分离，这限制了器件的寿命。对此，北京理工大学材料学院陈棋教授等人研究了二元（阳离子）系统钙钛矿薄膜(FA1-xCsxPbI3，FA：甲酰胺)，揭示了钙钛矿薄膜材料初始均一性对薄膜及器件稳定性的影响。研究发现，薄膜在纳米尺度的不均一位点会在外界刺激下快速发展，导致更为严重的组分分布差异化（如图2所示），最终形成热力学稳定的物相分离，并贯穿整个钙钛矿薄膜，造成材料退化和器件失活。该研究成果以题为“Initializing Film Homogeneity to Retard Phase Segregation for Stable Perovskite Solar Cells”发表在Science期刊。[1]图2. 二元 FAC 钙钛矿的降解机制。（A-H）钙钛矿薄膜的组分初始分布和在外界刺激下的演变行为。（I-N）热力学驱动下，钙钛矿薄膜的物相分离现象的TOF-SIMS表征TOF-SIMS作为重要的表面分析方法，具有高检测灵敏度（ppm-ppb）、高质量分辨率(M/DM>16000)和高空间分辨率(16000)和高空间分辨率(

2022-12-05 13:08:46TOF-SIMS在光电器件研究中的应用系列之二: PART 01 引言有机发光二极管（Organic Light-Emitting Diode，OLED）是基于多层有机薄膜结构的电致发光的器件，用作平面显示器时具有轻薄、柔性、响应快、高对比度和低能耗等优点，有望成为新一代主流显示技术。然而，高效率和长寿命依然是阻碍OLED发展的重要因素，因为有机材料易降解和器件界面结构不稳定从而导致OLED器件失效。在此背景下，迫切需要了解器件的退化机制，从而在合理设计和改进材料组合以及器件结构的基础上，找到提高器件寿命的有效策略。图1. 基于OLED柔性显示器件 PART 02 TOF-SIMS表面分析方法研究有机/无机混合OLED器件的界面效应是提高其性能和运行稳定性的关键步骤。在众多分析方法中，飞行时间二次离子质谱仪（Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer，TOF-SIMS）是表征有机层及其内部缺陷的有效分析工具。TOF-SIMS是由一次脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子，经飞行时间质量分析器分析二次离子到达探测器的时间，从而得知样品表面成份的分析技术，具有以下检测优势：（1）兼具高检测灵敏度（ppmm-ppb）、高质量分辨率(M/DM>16000)和高空间分辨率(

2023-04-12 09:27:29如何用数字源表快速扫描光电器件或材料的电性能？: 说到光电器件与材料，你会想到什么？是被誉为“理想能源”的太阳能电池，还是被称为“万物之眼”的光电探测器？在我们的日常生活中，光电器件的应用非常广泛。从电子产品的显示屏，到指纹解锁和面部识别，从汽车自动驾驶到太阳能电池板，再到大火的人工智能和AI，处处可见光电器件的身影。光电材料是整个光电产业的基础和先导，光电材料已由材料发展到薄层、超薄层及纳米微结构材料，并正向集材料、器件、电路为一体的功能系统集成芯片材料、有机/无机复合、有机/无机与生命体复合和纳米结构材料方向发展。作为科学领域研究的核心之一，科学家对光电器件和材料的研究从未停止。近年来，柔性显示屏、电子皮肤、有机电致发光器件（OLED）、有机光伏器件（OPV）、有机场效应晶体管（OFET）和金属氧化物半导体场效应管（MOSFET）均取得突破性进展。在光电器件和材料的研究和应用中，电性能表征是关键性的环节之一。实施分立器件特性参数分析的Z佳工具就是数字源表。数字源表作为独立的电压源或电流源,可输出恒压、恒流、或者脉冲信号,还可以当作表,进行电压或者电流测量;支持Trig触发,可实现多台仪表联动工作;针对光电器件单个样品测试以及多样品验证测试,可直接通过单台数字源表、多台数字源表或插卡式源表搭建完整的测试方案。普赛斯“五合一”高精度数字源表（SMU）可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具。不论使用者对源表、电桥、曲线跟踪仪、半导体参数分析仪或示波器是否熟悉，都能简单而迅速地得到精确的结果

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