- 2025-01-10 10:53:54原子力显微镜AF
- 原子力显微镜AF（Atomic Force Microscope）是一种高分辨率的显微镜，利用原子间的相互作用力来探测样品表面的形貌。它能够提供纳米级的分辨率，适用于观察材料表面的微观结构和性质。AFM广泛应用于材料科学、生物学、化学等领域，可用于研究表面粗糙度、纳米结构、分子间相互作用等。其优势在于高分辨率、非接触式测量和适用范围广。
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