电镜扫描分析 - 产品信息 - 相关知识

2025-01-24 09:31:23电镜扫描分析: 电镜扫描分析是一种利用扫描电子显微镜（SEM）对样品表面进行微观形貌观察和成分分析的技术。它通过聚焦电子束扫描样品表面，收集二次电子、背散射电子等信号，形成高分辨率的图像，揭示样品的微观结构。同时，结合能谱仪（EDS）等设备，还能进行元素定量分析。电镜扫描分析广泛应用于材料科学、生物医学、地质学等领域，是研究物质微观世界的重要手段。

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电镜扫描分析问答

2023-05-31 11:35:26锂电清洁度分析：从光镜到电镜（上）: 01金属异物对锂电池安全性的影响锂离子电池正极材料中金属异物（包括铁、镍、铜、锌、铬等）的含量对锂电池的性能有较大影响。金属异物在电池化成阶段会先在正极氧化再到负极还原，当负极处的金属单质累积到一定程度会形成枝晶，导致隔膜穿孔，造成电池内部短路，提高电池的自放电率，严重时甚至会电池起火、爆炸，影响电池的安全性能。目前对金属异物的管控水平已经成为衡量锂离子电池正极材料生产线最核心的指标之一。由于动力锂电池的最终客户为汽车公司（如大众，宝马，戴姆勒等），对于金属异物的检测标准也基本沿用燃油汽车清洁度标准（德国的汽车工业联合会推出的 VDA19）的相关概念。VDA19 中对于异物的评估方法主要包括：称重法，光镜法、电镜法、拉曼法等，其中光镜法和电镜法作为可视化的方法，得到了广泛应用。02光学显微镜检测的原理及结果金属表面的物理特性决定了光线不能进入金属物质，它会像镜子般把所有入射光全部反射出去。入射光在经由金属表面反射后，其反射光与入射光具有相同的振动方向。如果反射光通过两片平行的偏振片，金属颗粒呈现亮色；如果反射光通过两片垂直的偏振片，金属颗粒呈现纯黑色。入射光在经过非金属物质后，其振动方向会发生改变（主要原因是光可以射入非金属物质内部），经过非金属物质内部后再出来的反射光不再具有偏振性，其方向也会发生改变。反射光通过平行和垂直的偏振片时，其亮度变化不大。通过记录、对比颗粒在不同偏振光下的图片，而后鉴别出金属和非金属颗粒。具体测试结果如下：03光镜检测的局限性3.1 无法区分金属颗粒的详细分类并非所有金属颗粒都具有相同的危害性，例如，在对大量失效电池进行拆解分析后发现，相对于不锈钢，铜的危害性更高。主要是因为铜离子更容易在负极析出，析出后的生长方式呈现枝晶状，很容易刺穿隔膜。并且，铜的电导率比铁高了一个数量级，一旦铜枝晶刺穿隔膜，极易导致电池内部短路，进一步导致电池过热甚至起火。为了有效评估金属颗粒的危害性，需要知道颗粒的详细成分，而光学显微镜只能区分金属和非金属，但具体是哪类金属则无从得知。3.2 会造成金属与非金属的误识别根据光反射原理的分析，要求滤膜上的金属颗粒要反光发亮。由于污染物颗粒在零件加工过程中暴露于液体、高温和摩擦环境中，因此它们的表面会因为腐蚀等原因而不反光，呈现暗色。这些金属颗粒在光学显微镜下，会被错误地分类为非金属颗粒。在如下示例中，显示了三个颗粒(锌，钢和铝)，这些颗粒通过光学显微镜确认为非金属。然而，SEM+EDX 分析显示了这些颗粒的金属性质。3.3 对小尺寸颗粒的统计准确性较低光学显微镜的分辨率较低（相比电子显微镜要低 2-3 个数量级），其对小尺寸颗粒的测试准确性也较低。以下与 SEM+EDX 统计结果的比较，显示了光学显微镜的错误分类有多严重。由汽车供应商提供的同一片滤膜，分别进行了光学显微镜的颗粒分析以及 SEM+EDX 的测试分析，并进行了比较。结果显示，通过光学显微镜检测的金属颗粒数，不到实际金属颗粒的 1/60。3.4 无法分析颗粒的可能来源锂电池清洁度分析的意义，一方面是对清洁度的水平进行评估，另一方面，希望通过对金属颗粒的分析，确定其产生原因，并回溯至对应的生产工序，进行针对性的管控，从而提升产线的清洁度水平。由以上分析可知，光学显微镜提供的关于金属颗粒形态和成分的信息有限，无法分析颗粒的可能来源，对清洁度水平的提升帮助有限。因此，全自动锂电清洁度分析方案应运而生。Phenom ParticleX 以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础，可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计，为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。小编将在下一篇为大家详细讲述。

2025-04-25 14:45:17超声探伤仪扫描速度怎么调: 超声探伤仪扫描速度怎么调？超声探伤仪作为一种常用于工业检测的重要设备，能够通过超声波技术对物体进行非破坏性检测，广泛应用于金属、焊接、复合材料等领域。在使用超声探伤仪时，扫描速度的调节直接影响到检测效果的准确性和效率。合理的扫描速度不仅能提升检测精度，还能有效减少检测时间，提高工作效率。本文将详细探讨超声探伤仪扫描速度的调节方法，帮助您更好地理解如何在不同的检测需求下进行优化调整。超声探伤仪的扫描速度设置与多个因素有关，包括被检测材料的特性、探头类型、检验标准以及具体的检测任务要求。不同的材料和结构可能需要不同的扫描速度，以保证探测信号的清晰度和准确性。在实际操作中，过快的扫描速度可能导致信号丢失或干扰，从而影响检测结果的准确性；而过慢的扫描速度则会增加工作时间，降低工作效率。因此，选择合适的扫描速度，既要考虑信号质量，又要兼顾操作效率，是超声探伤仪操作中的关键。超声探伤仪的扫描速度一般通过仪器的操作面板进行设置，具体调节方式因设备型号而异。通常来说，扫描速度的调节可以通过控制仪器的扫描步进、探头移动速率和数据采集频率来实现。需要确保探头与检测面之间的接触良好，避免因接触不充分造成信号的丢失。调节扫描速度时，需要根据被检测物体的尺寸、厚度以及材料的声速特性进行综合考虑。对于厚度较大的工件，可以适当减慢扫描速度，以保证超声波信号能够穿透并准确反映物体内部的缺陷。超声探伤仪的扫描速度调节是一个综合考量的过程，需要根据不同的检测对象和需求进行精细调整。在操作过程中，建议定期进行设备的校准和测试，以确保设备的精确性和可靠性。在选择合适的扫描速度后，操作人员应根据检测标准和经验，不断优化调整，以达到佳的检测效果。为了提高超声探伤仪的使用效果，熟练掌握其扫描速度的调节技巧是每位操作人员必须具备的技能之一。通过对速度的合理控制，能够在确保检测质量的提升工作效率，达到更好的检测效果。

2023-04-17 15:26:25常温电镜公开课第8讲丨高压冷冻组织样品的电镜制样技术

2023-06-08 16:04:39邀请函｜飞纳电镜邀您共赴西北五省第十三届电镜学术交流及技术研讨会！: 会议邀请 “西北五省第十三届电镜学术交流及技术研讨会”将于 2023 年 6 月 9 日 - 12 日在甘肃省兰州市兰州大学举办。此次会议是西北五省规模最大、影响力最强的电子显微学盛会。本次会议将采用会前培训、会议中专家报告、学术座谈、厂商报告和厂家现场设备使用技术培训形式。专家学者将齐聚一堂，共赴这场电镜盛会。会议时间：2023 年 6 月 9 日 - 12 日会议地点：兰州大学电镜中心复纳科技致力于为实验室样品制备与检测提供智能、高效、可靠的高科技解决方案。其中飞纳台式扫描电镜作为全球领先的桌面式扫描电镜，凭借操作简单、成像质量高和效率高等优势成为众多研究人员的选择。在本次会议中，我们也将现场展示飞纳电镜能谱一体机 ProX，由工程师现场开展电镜技能培训与问题答疑，欢迎大家前来上机测试。会议报告/ FUNA本次会议中，复纳科技产品经理万正宇将带来“DENSsolutions 基于 MEMS 的原位透射电镜技术发展＆ STEM 在飞纳台式电镜上的应用”主题报告，为大家分享最新的原位实验方案与 STEM 表征。欢迎各位专家老师和我们一起探讨交流！01Pharos - STEM作为全球唯一台式场发射 Pharos-STEM 电子显微镜，在较低的加速电压下，可减少电子束对样品的损伤，显著提高了图像的衬度。Pharos STEM 电子显微镜，利用 FEG 高亮度电子源，可在透射模式下对薄样品进行成像。专用的样品夹可轻松装载常规 3mm 直径透射电镜 (TEM) 载网，实现样品的快速、安全切换。STEM 样品杯可提供明场 (BF) 、暗场 (DF) 和高角度环形暗场 (HAADF) 像，并支持自定义选择成像模式。02DENSsolutionsDENS 产品可以为原位 TEM 样品施加外界刺激，捕捉 TEM 样品在真实环境下的动态现象。目前提供的四种原位实验方案：Wildfire TEM 原位加热方案、Lightning TEM 原位热电方案、Climate TEM 原位气相加热方案和 Stream TEM 原位液相加热 / 加电方案，已经可以在 TEM 中引入气、液、热、电等多种状态。03Technoorg Linda复纳科技拥有 Technoorg Linda 离子研磨仪，采用离子束技术，可对样品进行快速研磨及表面精细加工和最终抛光。是 SEM / TEM 样品表面处理的有力工具。04NEOSCANNeoscan 台式显微 CT 采用先进 X 射线成像技术，分辨率高，对场地要求少，紧凑便携，适用于实验室和研究机构日常使用。欢迎各位老师莅临展位与我们探讨交流，我们随时为您提供专业的解答与支持，现场也有精美小礼品相送噢！

2025-01-02 12:15:11声学扫描显微镜探头怎么用: 声学扫描显微镜探头怎么用声学扫描显微镜（AFM）作为一项先进的成像技术，广泛应用于材料科学、生物医学、半导体等领域。而其中，探头的使用是实现精细成像的关键步骤之一。本文将详细介绍声学扫描显微镜探头的使用方法，帮助科研人员更好地理解如何通过合适的操作，优化显微镜的性能，获得高质量的样品图像与数据。 1. 声学扫描显微镜探头的基本构造声学扫描显微镜的探头通常由一个极其敏感的微小探针、弹性支架和一个电子系统组成。其主要作用是利用超声波或其他声学信号与样品表面相互作用，从而捕捉物质表面的微小变化。探头的极为细小，可以触及单个分子级别的细节，因此精确的操作至关重要。 2. 如何正确使用声学扫描显微镜探头 2.1 设置探头在使用声学扫描显微镜之前，首先需要正确安装探头。根据不同的显微镜型号，探头的安装方式有所不同，通常需要根据厂商提供的操作手册进行安装。安装时要确保探头方向与样品表面平行，并且探头与样品之间的距离要适中。探头与样品的接触力通常较小，以避免损伤探针或样品。 2.2 调整扫描参数在安装好探头之后，需要根据样品的特点调整合适的扫描参数。包括扫描速度、分辨率、探针的振幅等。扫描速度过快可能导致图像模糊，过慢则可能增加数据采集时间，影响实验效率。根据样品的硬度和表面状态，适当调整扫描的探头力度，以保证得到高精度的成像结果。 2.3 进行样品扫描当探头正确安装并且扫描参数设置好之后，便可以开始对样品进行扫描。在此过程中，操作人员需要保持稳定的工作环境，避免外界震动或温度波动影响探头的精度。探头通过其振动与样品的相互作用，将表面信息转化为电信号并反馈到显微镜系统中，进而生成高分辨率的图像。 2.4 数据分析与处理扫描完成后，所获得的数据可以通过专用软件进行处理和分析。根据图像的需要，可能需要对数据进行去噪、增强对比度等后处理操作，以提高图像质量并进行进一步的科学分析。此时，操作人员要特别注意软件中各类参数的设置，确保分析结果的准确性。 3. 声学扫描显微镜探头的常见问题与解决方法在使用过程中，声学扫描显微镜探头可能会遇到一些问题，比如探头损伤、图像噪点过多等。常见的解决方法包括：探头损伤：探头尖端容易受损，尤其是在操作过程中与样品表面发生碰撞时。避免过度施加压力或选择硬度较高的样品进行扫描，可以有效延长探头的使用寿命。图像噪点问题：噪点过多可能是由于探头不稳定或扫描参数设置不当导致的。可以通过调整扫描速度或使用更高质量的探头来改善图像质量。 4. 结语声学扫描显微镜探头的正确使用对实验结果至关重要。只有在安装、参数调整和扫描操作中细心把控，才能确保获得高分辨率的成像数据，进而推动科研工作的发展。掌握这些基本操作方法，将有助于在材料科学、生物医学等多个领域实现精确的微观探测，为科研创新提供有力支持。

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