2025-03-28 15:22:29建材传热测试系统
建材传热测试系统是一种用于评估建筑材料热传导性能的专业设备。该系统通过模拟不同环境条件,测量材料在热传递过程中的温度、热流等关键参数,从而准确计算出材料的导热系数、热阻等关键指标。该系统具有高精度、高稳定性、操作简便等特点,广泛应用于建筑、材料科学、能源等领域,为建筑材料的研发、选型及节能设计提供重要依据。

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2023-07-07 11:24:21安泰测试Agitek-9812DX低频噪声测试系统产品介绍
9812DX作为单一完整的低频噪声测试系统,支持多种半导体器件类型在各种工作条件下(如200V高压、10pA极低电流等)的高精度噪声测试。通过低频噪声测试,可以帮助芯片制造厂检测和排除工艺制造缺陷,确保芯片质量符合预期,提高芯片稳定性。晶圆级噪声测试精度和高测试带宽,最低测试噪声的电流精度低至10-27A2/Hz。典型噪声测试速度提高至一个偏置条件仅需20s、最高测试电压提高到200V。通过并行测试架构解决方案以及协同FS-Pro半导体参数测试系统等方式大幅度提高测试效率和吞吐量。用于28/14/10/7/5/3nm等各工艺节点的先进工艺研发和高端集成电路设计。内置功能强大的NoiseProPlus软件,支持1/f噪声、RTN噪声测试和数据分析。产品亮点:行业黄金标准:半导体行业低频噪声测试“黄金标准”系统广泛采用:已被众多行业领先半导体公司所采用的标准测试系统并行测试:经头部客户验证的高精度、高测试吞吐率并行测试能力宽量程:晶圆级高精度和测试带宽宽电压、宽电流、宽阻抗测量范围系统架构:系统体系架构经行业认可并不断完善兼具高精度和可靠性覆盖广泛:同时覆盖从10Ω到10MΩ的高阻抗器件和低阻抗器件测试能力技术参数:宽量程: 最大器件端电压和电流 : 200V, 200mA高精度: 最高 DC 电流精度 : 10pA、 系统噪声电流精度 :
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2023-07-07 11:25:23FS-Pro 半导体参数测试系统产品介绍-安泰测Agitek
S-Pro 半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备,在一个系统中实现了电流电压 (IV) 测试、电容电压 (CV) 测试、脉冲式 IV 测试、任意线性波形发生与测量、高速时域信号釆集以及低频噪声测试能力。几乎所有半导体器件的低频特性表征都可以在 FS-Pro 测试系统中完成。其全面而强大的参数测试分析能力极大地加速了半导体器件与工艺的研发和评估进程,并可与概伦 9812 系列噪声测试系统无缝集成,其快速 DC 测试能力进一步提升了 9812 系列产品的噪声测试效率。FS-Pro 釆用工业通用的 PXI 模块化硬件架构,系统扩展性强, 还支持多通道并行测试,可进一步提升测试效率。系统内置专业测试软件 LabExpress 为用户提供了丰富的测试预设和强大的测试功能,可实现非常友好的用户即插即用体验。FS-Pro 可广泛应用于各种半导体器件、LED 材料、二维材料器 件、金属材料、新型先进材料与器件测试等。基于在产线测试与科研应用方面的优异表现,FS-Pro 不仅被众 多芯片设计公司和代工厂、IDM 公司釆用,其全面的测试能力更在科研学术界受到了广泛关注和认可,目前已被数十所国内外高校及科学研究机构所选用。应用范围:被半导体工业界和众多知名大学及科研机构釆用作为标准测试仪器集成功能:高速高精度 IV/CV测试能力脉冲式 IV测试能力任意线性波形发生与测量能力高速时域信号釆集能力与 9812 对准的低频噪声测试能力使用方式:通过内置专业软件 LabExpress 的丰富功能实现测试操作简单灵活,无需编程即可实现自由的波形发生或电压同步与跟随系统架构:PXI标准机箱,可扩展架构,支持通过多机箱扩展SMU卡数量支持并行测试:内置功能强大的测试算法支持多通道并行测试成倍提升测试效率硬件规格:宽量程:200V 电压,1A 直流电流高精度:30fA 精度,0.1fA 灵敏度噪声测试带宽:高精度最高 100kHz,超低频最高 40Hz噪声测试速度:
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2022-09-07 13:49:54四环冻干机—真空冷冻干燥传热传质原理(七)
  2.2.3.4分形多孔介质中气体扩散方程通常流体的扩散满足Fick定律,固相中的扩散也常常沿袭出流体扩散过程的处理方法。但分形多孔介质中非均匀孔隙的复杂性,若仍沿用传统方法描述,将与实际情况相差太大。根据文献可知,若用ρ(r,t)表示扩散概率密度,在d维欧氏空间的一般扩散方程具有如下形式:若用M(r,t)表示时刻t,在r + dr之间的球壳中的扩散概率,用N(r,t)表示总的径向概率,也表示单位时间流过的物质流量,即通量。则概率守恒的连续方程可写为:在分形介质中:根据Fick扩散定律,在d维欧氏空间中,物质流与概率流之间满足如下关系:把式(2-100)中扩散系数D0用分形介质中的扩散系数代替!Ddf(r),空间维数d用分形维数代替,从而给出了分形介质中质量流量与概率密度之间类似的关系式:把式(2-98)和式(2-100a)代人式(2-97)中,可得分形介质中的扩散方程:比较式(2-97)和式(2-101),可以看出,分形介质中扩散方程和欧式空间扩散方程的区别在于,空间维数d用分形维数代替,扩散系数用分形多孔介质中的扩散系数,由于分形介质中的扩散系数不是常数,与扩散距离有关,扩散系数不能提到偏微分号外边。把式(2-96)代人式(2-101)中,可得分形多孔介质中的扩散方程为: 2.2.3.5冻干模型的建立模拟螺旋藻在如图2-23所示的小盘中的冻干过程,在建立热质耦合平衡方程时做了如下假设:① 升华界面厚度被认为是无穷小;② 假设只有水蒸气和惰性气体两种混合物流过已干层;③ 在升华界面处,水蒸气的分压和冰相平衡;④ 在已干层中气相和固相处于热平衡状态,且分形对传热的影响忽略不计;⑤ 冻结区被认为是均质的,热导率、密度、比热容均为常数,溶解气体忽略不计;⑥ 物料尺寸的变化忽略不计。下面所建的数学模型是在1998年Sheehan 建立的二维轴对称模型基础上建立的,只是水蒸气和惰性气体的质量流量根据分形多孔介质中的扩散方程进行修改,在修改的过程中将扩散系数改为分形多孔介质中的扩散系数,考虑到若将欧式空间的维数改为分形维数,方程的求解太困难,因为螺旋藻已干层分形维数为df= 1.7222,比较接近2, 所以仍沿用欧式空间的维数2,没做修改。(1)主干燥阶段数学模型   ①传质方程。已干层分形多孔介质中的传质连续方程如下:其中 ②传热方程。主干燥阶段已干层中热质耦合的能量平衡方程,其中传质相与分形指数有关:冻结层中能量平衡方程:(2)升华界面的轨迹   升华界面的移动根据升华界面处的热质耦合能量平衡的条件确定, 能量平衡条件为:其中(3)二次干燥阶段数学模型  传热能量平衡和传质连续方程:结合水的移除用方程(2-115)表示: 2.2.3.6初始条件和边界条件(1)主干燥阶段初始条件和边界条件也就是方程(2-103)~方程(2-109)的初始条件和边界条件。①初始条件。当t=0时,②边界条件。当t>0时:a.已干层(I区)的温度:q1为来自已干层顶部的热量q3为来自瓶壁的热,通过下式确定:b.冻结层(Ⅱ区)的温度:q2为来自搁板的热量:c.已干层中水蒸气和惰性气体的分压(I区):(2)二次干燥阶段初始条件和边界条件 也就是式(2-60)~式(2-63)的初始条件和边界条件。①初始条件。式(2-112)~式(2-115) 的初始条件是主干燥阶段结束时的条件,即t=tz=z(t,r)=L时表示移动界面消失时的条件,通常情况也代表二次阶段的开始。②边界条件。当t≥tz=z(t,r)=L时,q1为来自已干层顶部的热量:q2为来自搁板的热量:热流q3为来自瓶壁的热,通过下式确定:已干层中水蒸气和性气体的分压:
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2022-08-30 14:38:05四环冻干机—真空冷冻干燥传热传质原理(六)
 2.2.3微纳尺度冻干过程的传热传质以往的研究大都是研究宏观参数,如压力、温度和物料的宏观尺寸等对冻干过程热传递的影响,物料微观结构的影响忽略不计或被简化,因此,只是对于均质的液态物料和结构单一固态物料比较适用。对于一般生物材料,冻干过程已干层多孔介质实际上不是均匀的,而是具有分形的特点。然而分形多孔介质中的扩散已不再满足欧式空间的Fick定律,扩散速率较欧式空间减慢了,扩散系数不是常数,与扩散距离还有关。已干层分形特征如何确定,以及怎么影响冻干过程热质传递,都是有待研究的问题。从考虑生物材料的微观结构出发,根据已干层的显微照片分析生物材料已干层多孔介质的分形特性,确定已干层多孔介质的分形维数和谱维数,推导分形多孔介质中气体扩散方程,然后在1998年Sheehan和Liapis提出的非稳态轴对称模型的基础上建立了考虑了已干层的分形特点的生物材料冻干过程热质传递的模型,即惰性气体和水蒸气在已干层中的连续方程采用的是分形多孔介质中的扩散方程,扩散系数随已干层厚度的增加呈指数下降。为了验证模型的正确性,以螺旋藻为研究对象,用Jacquin等的方法根据螺旋藻已干层的显微照片确定螺旋藻已干层分形维数,用张东晖等人的方法求分形多孔介质的谱维数。模型的求解借助Matlab和Fluent软件,模拟了螺旋藻的冻干过程。  2.2.3.1分型多孔介质中气体扩散方程的推导通常流体的扩散满足Fick定律,固相中的扩散也常常沿袭流体扩散过程的处理方法。如果气体的分子直径自由程远大于微孔直径,则分子对孔壁的碰撞要比分子之间的相互碰撞频繁得多。其微孔内的扩散阻力主要来自分子对孔壁的碰撞,这就是克努森扩散,传统的冻干模型已干层中水蒸气和惰性气体的扩散都是按传统的欧氏空间的克努森扩散处理的,但对于生物材料已干层中的孔隙一般都具有分形的特征,使气体在其中的扩散也具有分形的特点,下面从确定已干层分形特征入手,来推导已干层分形多孔介质中的气体扩散方程。  2.2.3.2已干层多孔介质结构特性生物材料冻干过程已干层多孔介质的结构特性是影响冻干过程传热传质的很重要的一个因素。当孔隙具有分形特点时, 多孔介质中的热质传递不仅与为孔隙率有关, 还与孔隙的大小和排列有关,与孔隙的分形维数和谱维数有关。(1)孔隙率的确定  与计算机所产生的图像不同,实验图噪声比较大,不便于直接利用软件对图像进行数字处理。在分析图像之前,需要恰当地处理图像,目的就是减少噪声,使图像主要信息表达更加清楚。利用 Matlab 图像处理把彩色图像转换为黑白图像(二值图)时,要给出黑与白的分界值, 即像素的颜色阈值,低于阈值的像素定义为白色,代表孔隙,否则为黑色,代表固体物料。转化工具为Mat-lab的im2bw命令。图2-18为螺旋藻已干层显微照片,当颜色阈值取0.35时,图2-18对应的二值图如图2-19所示,考虑到在显微镜下观测螺旋藻已干层结构时有一定的厚度,固体物料有重叠,为了使处理的图像更接近实际结构,这里阈值取偏小值0.35。在Matlab中二值图是用1和0的逻辑矩阵存储的,0为黑, 1为白,且很容易对矩阵进行各种运算。通过统计矩 0和1的数可得螺旋藻已干层孔隙率为0.83。   (2)分形维数的确定   多孔介质孔隙分形维数的计算用常规的盒子法,即用等分的正方形网格覆盖所读人的图像,网格单元的尺度为r。然后检测每个网格单元中0和1的值,统计标记为1的单元数N(r)。N(r)和1/r分别取成对数后,在以lnN(r)为Y轴坐标,以In(l/r)为X轴的坐标上产生一个点,从两个像素开始,以一个像素为步长逐步增加,对应每一个r值,重复上述过程,得到一系列这样的点,再根据这些点拟合成一直线,其斜率即为分形维数。为了减小计算量,取图2-18—小部分进行计算,选中的小图对应的二值图2-19所示。按这种方法计算的图2-20的所示多孔介质的分形维数的结果见图2-21,图中离散点用上述方法得到, 计算中,覆盖网格分别取5X5~14X14。回归直线方程为相关系数为0.99628,其斜率即孔隙分形维数df= l. 722。(3)谱维数的确定 Anderson等通过分形网格的模拟,得到时间t内,物质粒子所访问过的不同格子数Din(t)与谱维数d存在下述关系: 根据此式,就可以计算得到分形结构的谱维数d。具体过程为从分形结构中某一孔隙格子处发出一个物质粒子,物质粒子在分形结构中的孔隙中各自随机行走,计算时采用近似的蚂蚁行走模型。如果行走到的格子以前没有访问过,那么就在独立访问过的格子数总和中加1[Din(t)=Din(t)+1]; 如果行走到的格子以前访问过,那么就在访问过的格子数总和中加 1(Null=Null+1);如果行走碰到分形结构的边界,那么行走终止,再在上面初始处发出一个物质粒子,由于是随机行走,此粒子的行走轨迹与刚才是不同的,最后对某时刻Din(t)求平均值,得到一组[Din(t),t]对应值,取对数坐标,可以看到两者是直线关系,由式(2-91)可知,直线的斜率就是d/2。谱维数与孔隙分形维数有很大关联,孔隙分形维数越小,意味着分形结构中孔隙的比例少,相同时间内,粒子行走越狭窄,重复过的弯路越多,其所经过的不同格子数越少,那么谱维数也就相应小一些。对于孔隙分形维数相同的分形结构,如果孔隙分布排列不一样,两者之间的谱维数值一定也会有差别。从图2-20分形多孔介质中孔隙部分任取一点,依次发出1000个物质粒子,覆盖网格重40x40,由上面的测定方法统计计算的结果见图2-22中的离散点,回归直线方程为:直线斜率为0.67405,从而可得孔隙的谱维数d=1.348。 2.2.3.3分型多孔介质中的扩散系数扩散系数的实质是单位时间粒子所传输的空间,在普通扩散过程中,随机行走的平均平方距离与时间成正比的关系:式中,为随机行走的平均平方距离。在分形多孔介质中,由张东晖等人的研究可知,平均平方距离和时间存在指数关系,α被称为与分形布朗运动相关联的行走维数,Orbach等发现由此也可看到:谱维数是分形介质静态结构和动态特性的一个中间桥梁。在处理具有分形特征介质的扩散系数时,一般都是在普通的扩散系数上加上分形特征的修正,由张东晖等人的模拟结果可知,分形多孔介质中的扩散系数已不是常数,而是随径向距离的增大而呈指数下降:式中,D。为欧氏空间的扩散系数;Ddf为分形结构中的扩散系数;r为扩散的距离;θ为分形指数,与多孔介质分形维数df和谱维数d有关,由张东晖等人的推导可知θ=2(df-d)/d。这实际表明:在分形结构中随着扩散径向距离的增大,扩散变得越来越困难,这是由于分形结构孔隙分布的不均匀性造成的。
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2024-12-26 09:30:15砂尘试验箱怎么测试
砂尘试验箱怎么测试:了解测试方法与标准 砂尘试验箱是一种模拟自然环境中砂尘天气条件的实验设备,广泛应用于电子、电器、汽车等行业的产品测试与研发。通过对设备在极端环境下的适应性进行测试,帮助制造商评估产品在沙尘暴或类似环境中的可靠性和耐久性。本文将详细介绍砂尘试验箱的测试方法、常见的测试标准及如何准确评估测试结果,确保产品在恶劣环境下的长期稳定性。 砂尘试验箱测试的基本原理 砂尘试验箱主要通过控制环境中的沙尘浓度、风速和温湿度,模拟出沙尘暴或高沙尘天气条件,从而评估设备在这种环境下的表现。测试时,设备在试验箱内暴露于预设的沙尘浓度、风速、温度等环境因素,确保可以复现现实中的沙尘天气对设备的影响。通过这些模拟测试,制造商能够预见到设备在极端气候下的表现,从而进行设计改进或质量优化。 砂尘试验箱测试的步骤 设置实验环境:根据标准或客户需求设置砂尘试验箱的温度、湿度和风速等参数。一般而言,试验箱内的温度应设置在规定的范围内,风速和沙尘浓度也应符合相关标准。 选择砂尘颗粒:根据测试对象的不同,选择适合的砂尘颗粒。常用的砂尘颗粒有不同的粒度,常见的是粉尘粒径在50微米至150微米之间的颗粒。这些颗粒能有效模拟沙尘天气对设备外观和功能的影响。 测试运行:将测试样品放置在试验箱内,并开始运行测试。设备通常会在不同的时间段内暴露于不同浓度和不同强度的沙尘环境中。测试周期和次数通常根据行业标准和具体产品要求而定。 结果评估与记录:测试结束后,需检查设备外观、功能和结构是否受到影响。常见的评估指标包括设备表面是否有尘土积聚、设备内部是否有尘土进入、电子部件是否受到干扰等。 常见的砂尘试验箱标准 在进行砂尘试验时,国际上有一些广泛采用的标准,例如IEC 60529、MIL-STD-810和GB/T 2423.37等。这些标准对试验的沙尘浓度、风速、温度范围等方面有明确规定,确保测试结果具有一致性和可比性。不同的行业可能根据具体需求,调整测试标准和周期。 砂尘试验箱测试结果的应用 通过砂尘试验箱的测试,制造商可以判断产品是否符合抗尘标准,是否适应各种极端天气条件。在汽车领域,砂尘测试通常用来检验车辆密封性和电子系统的耐用性;在电子行业,则用来测试设备的防尘等级和散热效果。通过砂尘试验的评估,产品可以在设计初期就进行改进,避免在实际使用中出现性能下降或故障,增强产品的市场竞争力。 结语 砂尘试验箱作为一种重要的环境模拟设备,不仅帮助制造商进行产品的可靠性测试,还为其提供了在极端环境下的质量保障。了解并掌握砂尘试验箱的测试方法、标准及其应用,能够为产品设计与优化提供科学依据,确保产品在各种复杂环境中都能稳定运行。这不仅提高了产品的质量,也加强了品牌的市场口碑和用户信任。
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