- 2026-01-24 11:49:23SiC器件测试系统
- SiC器件测试系统是一种专用于测试碳化硅（SiC）半导体器件性能的设备。该系统能够模拟实际工作条件，对SiC器件进行电学、热学及可靠性等多方面的测试。其主要功能包括测量器件的击穿电压、导通电阻、开关损耗等关键参数，评估器件的高温稳定性及长期工作可靠性。SiC器件测试系统对于确保SiC器件的质量和性能至关重要，是半导体研发和制造过程中不可或缺的工具。
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