目标
为了进一步开发基于金刚石和纳米金刚石的光电器件和其他应用,在宽光谱范围内对大块金刚石和金刚石表面的电子缺陷状态和电子跃迁进行非接触表征是非常有意义的。
解决方案
开尔文探针(直接测量接触电位差,ΔCPD)和调制区域中的非接触表面光电压(SPV)光谱提供了从近红外(<0.5 ev)到深紫外(="">6 eV)光谱范围内的跃迁能量和电荷分离方向的高灵敏度的信息。0.5>
应用实例
金刚石具有5.47 eV的超宽间接带隙[1]。
图1显示了通过CVD制备的多晶金刚石样品的ΔCPD光谱及其导数。可以清楚地区分与缺陷态激发有关的跃迁和带隙周围的跃迁 [2]。
对于另一个钻石样品的调制SPV光谱,灵敏度有所增加,在5.258和5.544eV处,与间接激子和横向光学声子辅助吸收有关的跃迁非常明显。
相关光谱就像指纹一样可以使用,例如,用于生产线的在线控制
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