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SZ-100粒度仪,破解纳米材料粒径控制与稳定性难题 | 技术头条

来源:HORIBA(中国) 更新时间:2026-01-31 11:30:27 阅读量:53
导读:SZ-100粒度仪,破解纳米材料粒径控制与稳定性难题 | 技术头条


“尺寸定乾坤,稳定系成败” 在纳米科学领域同样适用。把握纳米颗粒的尺寸稳定性,能明晰材料的光电学、磁性及生物活性,并为储存、运输与应用提供指导。而这,离不开动态光散射(DLS)与 Zeta 电位分析两大粒度表征技术。





SZ-100V2

纳米粒度及Zeta电位分析


一机实现多参数分析

仪器推荐-产品图 (4).png

HORIBA 纳米粒度及 Zeta 电位分析仪凭借独创的光学系统,强大的软件功能以及紧凑的机身设计,一机实现纳米粒子的粒径Zeta 电位分子量测定,并能适应各种实验室环境。该仪器能实现两大粒度表征核心技术,开启纳米科技前进之门!



兼具两大技术




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三大典型应用




DLS 与 Zeta 电位分析技术凭借其快速精准测量、有效保障稳定性等优势,在生物医药研发、工业生产质量把控、新材料及日用品创新开发这三大领域表现突出。

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从实验室的基础研究到工厂的规模化生产,动态光散射和 Zeta 电位分析正成为连接微观颗粒特性与宏观应用性能的核心桥梁。HORIBA 凭借深厚的技术积累全面的服务支持,让这两项技术更易落地,为纳米科技发展筑牢进阶之基!扫码获取更多 SZ-100V2 相关资料:

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