观世手持合金光谱分析仪以便携、快速、无损的材料成分分析为核心,适用于实验室、研发、生产线现场与回收再加工等场景。它可对金属合金、涂层材料、珠宝及电子元件外层进行定性与定量分析,帮助现场工艺控制与质量追溯。结合高灵敏探测单元、低功耗设计和便捷数据管理,观世系列在钢铁厂、汽车制造、航空零部件、电子制造及贵金属加工等领域得到广泛应用。
核心参数与型号对比
GS-H1
原理与探测:X射线荧光(XRF)手持分析,铟镧探测器,快速成分筛选
能谱范围:0.5-20 keV
检测元素:约20+元素,覆盖常用主元与典型微量元素
测量时间:2-30 s
小检测限(典型值):Fe 25 ppm、Cu 40 ppm、Ni 50 ppm、Ti 60 ppm
重量/体积:约420 g,紧凑手持
电源与防护:锂电池供电,IP54防护等级
数据接口:USB-C、蓝牙
特点:快速现场比对库、工艺偏差报警、离线数据可携带
GS-H2
强化场景:野外或车间环境,耐温抗塵更佳
能谱范围:0.5-20 keV
检测元素:25+元素
测量时间:1-60 s
小检测限(典型值):Fe 15 ppm、Cu 20 ppm、Ni 25 ppm
重量/体积:约480 g
环境防护:IP54,抗冲击设计
数据接口:USB-C、蓝牙、WLAN
特点:扩展材料库、云端涂层分析、快速组别判定
GS-H3
能谱范围:0.5-40 keV,提升轻重元素分辨
检测元素:30+元素
测量时间:1-60 s
小检测限:Fe 10 ppm、Cu 15 ppm、Al 50 ppm、Zn 20 ppm
重量/体积:约700 g
电源与耐用性:高容量电池,工作温区更宽
特点:高分辨率探测、贵金属与合金基体区分能力更强
GS-H4
定位:实验室与工厂联动的高稳定性型号
能谱范围:0.5-40 keV
检测元素:35+元素
测量时间:1-60 s
小检测限:Fe 8-12 ppm、Ni 15 ppm、Cu 12 ppm
重量/体积:约780 g
特点:内置温控校准、NIST参考块随附、全量程质控报告
应用领域与场景要点
数据对照速览(用于采购与选型的要点)
场景化FAQ
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