缔伦光学15JE数显测量显微镜在微观尺寸测量与表面轮廓检测领域提供稳定的重复性与高效的操作体验。该系列以刚性机身、低漂移运动机构和数字化测量界面为核心,适用于实验室的研究、工业现场的质量控制与工艺分析等场景。以下从产品知识角度梳理核心参数、型号差异与应用要点,方便快速对比与选型。
主要参数与型号
- 放大倍率:7x~500x 连续无极调节,镜头组合与数显模块共同实现广泛覆盖,便于从宏观表面到微结构的多尺度观察与测量。
- 光学头与结构:三目/双目头可选,铝合金机身,高刚性和低热漂移设计,机身对准与热稳定性有助于长期重复性测量。
- 工作台与行程:工作台尺寸约100 mm×80 mm,X/Y 行程约110 mm×85 mm,Z 行程约30 mm,便于夹具多样化与样品尺寸兼容。
- 数字显示与软件:7英寸触控显示屏,分辨率常见为1024×600,内置测量与标注软件,支持屏幕直接读数、距离测量、轮廓提取等功能,导出CSV、PNG等数据格式。
- 测量精度与重复性:线性尺寸测量误差在标准工作条件下通常控制在±2 μm级(具体视样品平整度与载荷稳定性而定),重复性良好,适合日常过程控制与数据记录。
- 光源与成像:LED顶光/透射光组合,亮度可调,支持 Koehler 点亮模式,改善对比度与边缘轮廓清晰度,适合金属、PCB、薄膜等材料。
- 数据接口与集成:USB 3.0、HDMI、以太网(LAN)等接口,便于与PC、MES系统或实验室网络集成,数据可原位导出或远程访问。
- 电源与尺寸:输入电源覆盖100–240 V,整机尺寸与重量适中,便于桌面布置与多机并列使用,常见重量在10–15 kg区间,便于移动与维护。
- 标准认证与质保:符合CE及相关电气安全标准,提供厂家级保修与现场/远程技术支持,常规耗材与易损件可按需备件化。
型号差异与特点
- 15JE-STD 标准版:核心为7x~200x放大范围,适合日常实验室通用测量,工作台尺寸适中,显示屏为7英寸,USB/HDMI接口齐全,性价比高,适合新购或多机并用的实验室环境。
- 15JE-PRO 增强版:放大7x~400x,工作台提升至约140 mm×110 mm,Z 行程更宽,屏幕提升到9英寸触控显示,配备自带测量软件与数据导出能力,支持CSV/XML等格式,适合生产线现场 QC 与稳定性分析。
- 15JE-ULTRA 定制版:放大7x~500x,工作台180×150 mm,Z 行程约50 mm,显示屏10.1英寸高分辨率显示,集成光学防抖、温控补偿和高级测量算法,支持与工控系统深度对接,适用于高端研发、精密元件检测与极限尺寸测量场景。
应用要点与场景化要点
- 研究实验场景:用于微结构对比、材料表面轮廓测量、薄膜厚度初步评估,强调重复性与数据追溯,支持多样样品夹具与快速切换镜头配置。
- 质量控制场景:在生产线现场对初级外观、尺寸偏差进行快速抽检,搭配自动化数据导出与MES系统集成,提升产线良率分析效率。
- 工艺分析场景:对加工后样本进行截面或表面轮廓比较,结合软件提取轮廓曲线,评估工艺参数对几何尺寸的影响。
- 现场维护场景:机身轻量化设计便于移动,LED光源无汞且寿命长,日常清洁与光路对准工作量较低,备件模块化便于现场更换。
场景化FAQ
- 15JE 的读数如何在QC流程中确保一致性?在同一工作台、同一光源设置下进行多点测量,记录基准样本的读数并建立标准偏差;定期进行校准对比,确保跨班次数据的一致性。
- 如何校准尺寸测量的准确性?使用厂家提供的校准样板(微米级刻线标定尺或校准块),在同一光路和放大倍率下完成平行平整面的对比,生成校准记录并定期复核。
- 软件与数据导出支持哪些格式?常见导出格式包含CSV、XML、PNG等,便于与实验室LIMS/MES系统或统计分析软件对接,支持自定义字段与批量导出。
- 与工控系统集成的优势有哪些?LAN/USB接口实现与PLC或工控服务器的数据对接,能够实现远程观测、自动化测量任务触发和结果回传,提升生产过程可追溯性。
- 维护要点与使用寿命如何延长?日常清洁光学部件、避免灰尘积聚在镜头与透镜之间,LED 光源无需热预热,定期检查传动机构润滑度与紧固件,按型号提供的维护手册执行周期性维护。
- 现场操作对环境有何要求?建议在温度稳定、无强振动的工作环境中使用,避免高湿和粉尘环境,若有洁净要求可在防护罩下使用并配合定期清洁计划。
总结
15JE 系列在参数丰富度、测量度与数据互联性方面具备明显的市场竞争力。标准版适合日常教学与基础研究,增强版适配生产线的日常质控任务,而高端定制版则满足对放大倍率、工作台尺寸、测量算法和系统对接的高要求场景。结合具体样品类型、测量需求与数据流向,方案对比应以放大范围、工作台尺寸、数据接口和软件功能为核心维度进行评估,从而实现对实验室、科研机构和工业现场的组合。
参与评论
登录后参与评论