2024 XRD的基本概念补完

探测器结构：由于0D模式在探测器表面没有关于2θ位置的信息，因此无论x射线落在探测器表面的中心还是边缘，只能获得强度信息。

分辨率需求：为获得分辨率，设置狭缝宽度或者选用更密集的索拉狭缝和平行狭缝分析器PSA。

探测器结构：一维探测器的每个元件是窄条，条带长度垂直于 2θ 方向。

提升强度：在 1D 扫描模式下，探测器表面上的所有传感器元件都会针对某个 2 θ 位置一个接一个地收集强度。1D 测量不需要狭缝来限制接收宽度，因为探测器具有关于 2 θ 位置的信息。1D 扫描模式可让您获得比 0D 扫描高数十倍的强度

分辨率与峰形：使用 1D 扫描收集的衍射峰形具有高的角度分辨率。假设1D探测器的宽度为 100 μm，1D 扫描的峰值宽度对应于 0D 扫描模式下 0.1 mm 的接收狭缝条件。

如今，1D 扫描模式已成为测量粉末样品的事实标准。

探测器结构：2D 探测器由边长约 75-100 μm 的矩形像素组成。这些像素在平面上以矩阵形式排列，可用于数据收集的有效检测区域比 0D 和 1D 探测器更大。

应用信息：可直接观察大范围的德拜环，便于分析结构信息（择优取向以及单晶外延膜的方位，广域构造分析等）。