如何测量包含在回路中但不改变电路的接触电阻？

　　如何测量包含在回路中但不改变电路的接触电阻？

　　一种新方法将解决它。这种方法对于测量复杂机械装配中的接触电阻非常有用。接触电阻定义为触点两端的电压与流过一对闭合触点的电流之比。它符合欧姆定律。金属 1 和金属 2 之间有一个接口。来自电流源的电流 I 流过这个接口，可以从电流表中读取。然后可以从电压表中读取界面上的电压降为 U。然后可以计算出接触电阻值 Rx。

　　Rx=U/I

　　由于接触电阻随环境和电流通过而变化，因此测量条件应与使用条件接近。精确测量必须使用四端测量技术和消除热电动势技术。这种间接测量方法可用于测量接触电阻或回路电阻。它需要三个测试点、三个步骤和三个公式。该方法已被证实是正确的，也可用于校准环路电阻标准。

　　接触电阻测试的典型方法

　　四线（开尔文）直流电压降是微欧表进行接触电阻测试的典型方法，它通过消除自身的接触电阻和测试引线的电阻来确保更准确的测量。

　　接触电阻测试使用两个电流连接进行注入，使用两个电位引线进行电压降测量；电压电缆必须尽可能靠近要测试的连接，并且始终位于连接的电流引线形成的电路内。

　　根据电压降的测量，微处理器控制的微欧表计算接触电阻，同时消除连接中的热 EMF 效应可能产生的误差（热 EMF 是两种不同金属连接在一起时产生的小热电偶电压）它们将被添加到测量的总电压降中，如果不通过不同的方法（极性反转和平均，直接测量热 EMF 幅度等）从测量中减去它们，则会在接触电阻测试中引入误差。

　　如果在使用低电流测试断路器接触电阻时获得低电阻读数，则建议在更高电流下重新测试触点。为什么我们会受益于使用更高的电流？较高的电流将能够克服端子上的连接问题和氧化，在这些条件下，较低的电流可能会产生错误的（较高的）读数。

　　在接触电阻测试中保持一致的测量条件非常重要，以便能够与之前和未来的结果进行比较以进行趋势分析。因此，在进行定期测量时，必须在相同的位置、使用相同的测试引线（始终使用制造商提供的校准电缆）和相同的条件下进行接触电阻测试，以便能够知道何时连接、连接、焊接或设备将变得不安全。