金属覆盖层厚度测量X射线光谱国标

收藏 评价 举报

• 分享

常规的X射线测厚仪比如德国菲希尔的FISCHERSCOPEX-RAYXULM，是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量细小零部件上的镀层厚度和成分分析。为了使每次测量都能在Zyou的条件下进行，XULM配备了可电动调整的多种准直器及基本滤片。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯（17）到铀（92）。XULM型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。本款仪器特别适合用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。典型的应用领域有：微小零部件、接插件和线材上镀层厚度的测量印制线路板上手动测量珠宝手表业中的镀层厚度测量及成分分析设计理念FISCHERSCOPEX-RAYXULM设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根据使用用途，有以下两种不同版本型号，分别对应不同样品平台：XULM：固定平面平台XULMXYm：手动X/Y平台高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能，可以极ng确定位测量位置。尽管仪器本身结构紧凑，但是由于XULM光谱仪配备了宽敞的测量室，从而可以测量更大体积的样品。外罩底部留下了空隙，可方便地测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品，如大面积的印制线路板等。通过强大且界面友好的WinFTM软件，可以在电脑上便捷地完成整个测量过程，包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。XULM型光谱仪是型式许可符合德国”DeutscheRntgenverordnung-RV“法令要求的，有完善防护措施的测量仪器。
标签：

• 镀膜厚度测量

  无损检测，样品可以不被破坏；Z多可测量五层，采用JEOLZxinFP法软件，无需标样皆可进行测量，是检测和操

• 微区XRF（X射线分析显微镜）对金属薄膜的快速厚度测量

  微区XRF（X射线分析显微镜）对金属薄膜的快速厚度测量

• 镀锌材料厚度测量解决方案

  镀锌材料厚度测量解决方案

• 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 阳极溶解库仑法

  金属覆盖层 覆盖层厚度测量 阳极溶解库仑法

• 平板状试样厚度测量方法：培训教程视频

  平板状试样厚度测量方法：培训教程视频

• 薄膜厚度测量系统产品样册

  薄膜厚度测量系统产品样册

• 日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪产品样册

  日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪产品样册

• Filmetrics F3-XXT 薄膜厚度测量仪产品样册

  Filmetrics F3-XXT 薄膜厚度测量仪产品样册

• PT-03数显瓦楞纸板测厚仪 厚度测量仪产品样册

  PT-03数显瓦楞纸板测厚仪 厚度测量仪产品样册

• X射线荧光镀层厚度测量仪

  X射线荧光镀层厚度测量仪