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GJ03-802光子相关纳米粒度仪的技术资料

上传人: 白山市玖久仪器仪表有限公司 |大小:12.5KB|浏览:377次|时间:2018-10-07
GJ03-802光子相关纳米粒度仪的技术资料
文档简介

GJ03-802光子相关纳米粒度仪的技术资料GJ03-802光子相关纳米粒度仪是玖久仪器公司向您推荐的新一代粒度仪仪器特点:1.先进的测试原理该仪器采用动态光散射原理,其测试方法具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的特点,从而保证了测试结果的真实性和有效性;2.高灵敏度与信噪比核心部件采用我公司自主研制CR256数字相关器,它实时完成动态散射光强的采集和自相关函数运算,从而有效地反映不同大小颗粒的动态光散射信息,为测试结果的准确度奠定基础;3.稳定的光路系统采用光纤技术搭建而成的光路系统,使光子相关谱探测系统不仅体积小,而且具有很强的抗干扰能力,从而保证了测试的稳定性;4.高精度恒温控制系统采用半导体温控技术,温控精度高达±0.2℃,使样品在整个测试过程中始终处于恒温状态,避免温度变化而引起液体黏度及布朗运动速度变化导致的测试偏差,保证测试结果准确度及稳定性。技术参数执行标准GB/T19627-2005/ISO13321:1996GB/T29022-2012/ISO22412:2008测试范围1~10000nm(与样品有关)准确度<1%(标准样品平均粒径)重复性<1%(标准样品平均粒径)测试浓度0.1mg/ml~100mg/ml(与样品有关)激光半导体激光器,λ=532nm,P=30mW探测器光电倍增管(PMT)散射角90o样品池10mm×10mm×40mm,1~4mL测试温度5~40℃温控精度±0.2℃测试速度<5Min体积480mm×270mm×170mm重量12Kg数字相关器规格型号CR256自相关通道256基线通道4单位延迟时间100ns~10ms
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