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<国际规范查询目录>GB-电气、电子元器件、信息技术

上传人: 东莞市科文试验设备有限公司 |大小:79KB|浏览:2073次|时间:2018-10-11
<国际规范查询目录>GB-电气、电子元器件、信息技术
文档简介

<国际规范查询目录>GB-电气、电子元器件、信息技术标准标准号标准名称32GB/T17625.3-1999电磁兼容试验和测试技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验33GB/T17626.3-1998电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验34GB/T17626.5-1999电磁兼容试验和测试技术浪涌(冲击)抗扰度试验35GB/T17626.12-1998电磁兼容试验和测量技术振荡波抗扰度试验36GB/T1772-1979电子元器件失效率试验方法KOWIN(快速温变试验箱,ESS应力筛选试验箱)37GB/T2036-1994印制电路术语38GB/T2471-1995电阻器和电容器优先系数39GB/T2691-199l电阻器和电容器标志代号40GB/T3388-1982压电陶瓷材料型号命名方法41GB/T4210-1984电子设备用机电组件名词术语42GB/T4475-1995敏感元器件术语43GB/T4588.3-1988印刷电路板设计和使用44GB/T4588.4-1996多层印制板分规范45GB/T4677.12-1988印刷电路板互连电阻测试方法46GB/T4677.16-1988印刷电路板一般检验方法47GB/T4706.1-1992家用和类似用途电器的安全通用要求48GB/T4793.1-1995测量、控制和试验室用电气设备的安全要求49GB/T5489-1985印刷电路板制图50GB/T5965-2000半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路**篇双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑数组)空白详细规范51GB/T6587.1电子测量仪器环境试验总纲52GB/T6587.2电子测量仪器温度试验KOWIN(高低温试验箱,高温老化箱,低温试验箱)53GB/T6587.3电子测量仪器湿度试验KOWIN(温湿度试验箱,湿热试验箱,高低温湿热试验箱)54GB/T6587.4电子测量仪器振动试验KOWIN(电磁振动台,垂直水平振动台)55GB/T6587.5电子测量仪器冲击试验KOWIN(冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱)56GB/T6587.6电子测量仪器运输试验KOWIN(模拟运输振动台)57GB/T6587.7电子测量仪器基本安全试验58GB/T6587.8电子测量仪器电源频率与电压试验59GB/T6593-1996电子测量仪器质量检验规则60GB/T6833.1-1986电子测量仪器电磁兼容性试验规范总则61GB/T6833.2-1987电子测量仪器电磁兼容性试验规范磁场敏感度试验62GB/T6833.3-1987电子测量仪器电磁兼容性试验规范静电放电敏感度试验63GB/T6833.4-1987电子测量仪器电磁兼容性试验规范电源瞬态敏感度试验64GB/T6833.5-1987电子测量仪器电磁兼容性试验规范辐射敏感度试验65GB/T6833.6-1987电子测量仪器电磁兼容性试验规范传导敏感度试验66GB/T6833.7-1987电子测量仪器电磁兼容性试验规范非工作状态磁场干扰试验67GB/T6833.8-1987电子测量仪器电磁兼容性试验规范工作状态磁场干扰试验68GB/T6833.9-1987电子测量仪器电磁兼容性试验规范传导干扰试验69GB/T6833.10-1987电子测量仪器电磁兼容性试验规范辐射干扰试验70GB/T6991-1986电子元器件可靠性资料表示法71GB/T6993-1986系统和设备研制生产中的可靠性程序72GB/T7269-1987电子设备控制台的布局、型式和基本尺寸73GB/T93151988印刷电路板外形尺寸系列74GB/T11279-1989电子元器件环境试验使用导则■其它类1SJ/T10149-199l电子元器件图形库半导体分立器件图形2SJ/T10150-1991电子元器件图形库电阻器、电容器、电感器图形3SJ/T10224-199lCAD绘制电子产品图样用图形和符号库标准结构件图形4SJ/T10225-1991电子元器件图形库机电元器件图形5QJ/T1239-87电子设备环境试验条件和方法www.kowintest.com6QJ/T1693-1989电子元器件防静电要求7QJ/T1875-1990静电测试方法8QJ/T1950-1990防静电操作系统技术要求9QJ/T2245-1992电子仪器和设备防静电要求
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