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GB_T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法

上传人: 北京华测试验仪器有限公司 |大小:331.2KB|浏览:1024次|下载:5次|时间:2018-10-18
GB_T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
文档简介

GB/T 5594 的本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。
本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1 MHz ,温度从室温至 500 ℃条件下的介电常数和介质损耗角的正切值的测试。
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