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GB 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法

上传人: 北京华测试验仪器有限公司 |大小:195.39KB|浏览:1036次|下载:3次|时间:2018-10-18
GB 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
文档简介

本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500 ℃范围体积电阻率的测定。
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