SJT 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法
- 上传人: 北京华测试验仪器有限公司 |大小:75.79KB|浏览:1657次|时间:2018-10-18
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本标准适用于测试电子玻璃的高频介质损耗和介电常数。
本标准利用 Q 表,在高频波段,根据谐振原理,对不接入和接入试样的调谐回路进行两次测量,求得在谐振回路的品质因数和回路电容,通过计算获得介质损耗角的正切值和介电常数。
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