Panametrics38DL PLUS OLYMPUS超声波测厚仪,无损检测仪简介

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【产品名称】Panametrics（泛美）38DLPLUSOLYMPUS超声波测厚仪【产品型号】Panametrics（泛美）38DLPLUS【超声波测厚仪技术参数】显示：彩色透反VGA显示液晶显示，显示屏尺寸：56.16毫米X74.88毫米检波全波：RF波、正半波、负半波输入/输出：USB1.0从接口。RS-232有。存储卡Zda容量：2GB外置MicroSD存储卡。视频输出VGA输出标准。文件结构9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。报告机载：报告总结了数据统计、带有位置信息的Z小值/Zda值、Z小值回顾、文件比较及报警报告。厚度范围：0.080毫米～635.00毫米，视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。材料声速范围：0.508mm/μs～13.998mm/μs分辨率（可选择）低分辨率：0.1毫米外型尺寸（宽x高x厚）总体尺寸：125毫米x211毫米x46毫米重量：0.814公斤电源AC/DC适配器：24V锂离子电池，23.760Wh；或4节AA辅助电池。【数字超声波测厚仪产品特点】PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可wan美地适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头完全兼容。功能齐全的38DL,PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其极ng确的壁厚测量。PLUS的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能，以及一些专用于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以抵御极其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在完全的黑暗中都能具有的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。
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