GB/T 20176-2006 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
- 上传人: 上海科学仪器有限公司 |大小:2.74MB|浏览:217次|时间:2018-11-27
- 文档简介
- 您可能感兴趣的资料
-
GB/T 3884.12-2010 铜精矿化学分析方法 氟和氯含量的测定 离子色谱法
-
钢铁及合金化学分析方法系列国家标准(GB/T223)
-
GB/T7766-2008橡胶制品化学分析方法
-
GB_11436-1989_软磁铁氧体成品-半成品化学分析方法
-
本系列标准中《铜f5F的测定》方法2、《铁址的测定、方法七《锡址的Mil}i'-方法2.锰从的测亡斤论_]及
-
本标准系首次制定。本标准遵守:GB/T1.1--1993GB/T1.4-1988GB/T1467-1978G
-
本标准是对G川T472.9-1984(铅锭化学分析方法结晶紫分光光度法测定蛇量》的重新确认,只进行编辑性修改
-
本标准是对GB/T41.03.12--1983((铅基合金化学分析方法原子吸收分光光度法测定银、锌、镁和钠量
-
本标准是对GB/T4103.12-1983((错基合金化学分析方法原子吸收分光光度法测定银、锌、镁和钠里》中
-
国家标准GB-T4103.9-2000铅及铅合金化学分析方法钙量的测定本标准是对GB/T4103.11一19
本标准详细说明了用标定的均匀掺杂物质确定单晶硅中硼的原子浓度的二次离子质谱方法。
标签: