InGaAs线阵扫描相机 C15333-10E产品样册
- 上传人: 滨松光子学商贸(中国)有限公司 |大小:1.06MB|浏览:197次|时间:2020-03-10
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SWIR(短波红外)成像是无损检测的解决方案。它可以根据物体表面SWIR光谱特征区分材料,并提供安全便捷的方法来保证产品质量,包括检查包装中的液体质量,检查密封容器里的内容以及检测农产品中的损坏和杂志等。另外,还可以在半导体工业中进行硅晶圆的太阳能电池缺陷检查。将SWIR成像方式集成到产线中需要高行频,高灵敏度的相机,针对这些应用,滨松目前正是推出了新型C15333-10EInGaAs线阵扫描相机。
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