光学NanoGauge C10178-03E产品样册
- 上传人： 滨松光子学商贸（中国）有限公司 |大小：3.4MB|浏览：525次|时间：2020-03-10
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C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。我们的产品使用多通道光谱仪PMA作为检测器，测量各种光学滤光片和涂膜厚度的同时还可以测量量子产率，反射率，透射/吸收率等参数。 C10178-03E支持NIR（900 nm至1650 nm） (AC200 V to AC240 V, 50 Hz / 60 Hz)
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