孔洞检测单元 C12570 series产品样册
- 上传人: 滨松光子学商贸(中国)有限公司 |大小:378.07KB|浏览:744次|时间:2020-03-10
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C12570系列是孔洞检测装置,用于检测层压薄膜和金属箔中的孔洞。 由于采用非接触式光学检测,被检测的样品不会暴露在液体或特殊环境的压力中(例如电场、磁场和电解质溶液)。 C12570系列采用高灵敏度的光电倍增管,可以高精度地检测微小的孔洞。
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