ICP-OES 分析高浓度钯(Pd)内的微量硒 (Se)
- 上传人: 珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 |大小:1.62MB|浏览:461次|时间:2020-05-20
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钯(Pd)是目前半导体超微镀金使用的非常重要的元素之一。由于是用于超微镀金,所以主要成分钯(Pd)的准确含量很重要,所含杂质的定量也非常重要。本文建立了利用ICP-OES分析高浓度钯(Pd)内的微量硒 (Se)的解决办法。
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