如何呈现扫描电镜样品表面的“真实形貌”

收藏 评价 举报

• 分享

扫描电子显微镜（SEM）是依靠电子束与样品相互作用产生俄歇电子、特征 X 射线和连续谱 X 射线、背散射电子等信号，对样品进行分析研究。 扫描电镜在表征样品时，受诸多参数的影响，不同类型样品应选用合适的参数，才能呈现出样品更真实的表面信息。如在不同的加速电压下，电子束与样品作用所获得的信号会有很大的差别。
标签：

• 磁性样品的扫描电镜观察与分析

  磁性样品的扫描电镜观察与分析

• 金相显微镜及扫描电镜在铝行业中的应用

  金相显微镜及扫描电镜在铝行业中的应用

• 扫描电镜阴极荧光谱仪

  扫描电镜阴极荧光谱仪

• 新型扫描电镜样品制备系统在不同领域的应用

  新型扫描电镜样品制备系统在不同领域的应用

• 扫描电镜在纳米测量中的成象误差

  扫描电镜在纳米测量中的成象误差

• 扫描电镜低电压观察在钢铁研究中的应用

  扫描电镜低电压观察在钢铁研究中的应用

• 石油地质行业扫描电镜研究及样品制备新方法

  石油地质行业扫描电镜研究及样品制备新方法

• 石油地质行业扫描电镜研究及样品制备方法

  石油地质行业扫描电镜研究及样品制备方法

• 扫描电镜样品制备的常见方法

  扫描电镜样品制备的常见方法

• 扫描电镜与能谱仪技术及其应用

  扫描电镜与能谱仪技术及其应用