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High Spatial Resolution Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry for the Masses

上传人: 泰思肯贸易(上海)有限公司 |大小:4.07MB|浏览:801次|时间:2021-05-21
High Spatial Resolution Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry for the Masses
文档简介

The ion microprobe or secondary ion mass spectrometer(SIMS) has existed for almost fifty years , but althoughgreat improvements have been made in sensitivity and easeof use, the lateral resolution has not improved quite as much.Early papers reported measurements from fifty micron areas

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