高低温循环装置在集成电路稳定性测试中的应用
- 上传人: 广东皓天检测仪器有限公司 |大小:98.63KB|浏览:71次|时间:2024-03-25
- 文档简介
- 您可能感兴趣的资料
-
集成电路(IC)封装的界面显微组织检验方法
-
上海伯东美国Temptronic集成电路IC卡高低温测试应用
-
应用纳米压入仪(NHT)测量集成电路中金质连线的性质
-
冷却水循环装置与X射线衍射仪
-
密闭制冷加热循环装置用途及特点
-
冷却水循环装置CF300技术参数
-
日本EYELA CCA小型冷却水循环装置产品样册
-
集成电路卡扭曲试验机产品样册
-
ZT-20-200-30H密闭制冷加热循环装置产品样册
-
低温恒温反应浴|冷却水循环装置|低温循环机产品样册
集成电路是现代电子设备中的核心组件,其稳定性对于设备的可靠性和性能至关重要。高低温循环装置可用于模拟集成电路在不同温度条件下的工作情况,以评估其稳定性。本测试旨在研究集成电路在温度循环变化下的性能变化,以及确定其可靠性和耐久性
标签:
- 立即上传
- 该会员其他文档
- 相关其他文档
- 看过此文档还看过