红外热成像显微镜可探测热点和缺陷电子元件和电路板故障诊断,测量结温,甄别芯片键合缺陷
- 上传人: 孚光精仪(香港)有限公司 |大小:868.3KB|浏览:531次|时间:2013-10-22
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