Avio 500 ICP 按伦敦金属交易所要求分析铅中杂质

收藏 评价 举报

• 分享

虽然铅（Pb）对活生物体具有高毒性，已逐渐淘汰出各种产品，但仍广泛用于许多领域，尤其是铅酸蓄电池、合金、辐射屏蔽、建筑行业、弹药，以及工业管道和装载腐蚀性物质的容器。通过不同使用方式，铅的所需等级/纯度有所不同，因此铅以各种纯度要求生产。伦敦金属交易所发布了多种不同铅的规格。本文的ZD是利用PerkinElmerAvio500ICP-OES分析不同纯度的铅，使用“标准铅要求”作为待测元素和浓度的指南。展示了Avio500ICP-OES能够分析伦敦金属交易所规定的纯度范围为99.97％至99.994纯铅（1％铅溶液模拟）。尽管高基体浓度会导致少数元素的光谱干扰，但是可以通过使用MSF来克服干扰，从而满足测试需要。Avio500很容易测量铅中痕量元素，以符合伦敦金属交易所的要求。
标签：

• Avio 500 ICP-OES 根据伦敦金属交易所要求测定纯镍中杂质

  本文证明了PerkinElmer Avio 500 ICP-OES可对高纯Ni（1%Ni溶液模拟）的杂质进行

• 动态反应池-ICP-MS分析半导体级盐酸中杂质

  动态反应池-ICP-MS分析半导体级盐酸中杂质

• ICP-AES OES 法同时测定钕铁硼合金中主量和杂质元素

  ICP-AES OES 法同时测定钕铁硼合金中主量和杂质元素

• ICP-AES法测定M5锆合金中铌和15种杂质元素含量

  ICP-AES法测定M5锆合金中铌和15种杂质元素含量

• NexION300S ICP-MS测定半导体行业中使用有机溶剂的杂质

  NexION300S ICP-MS测定半导体行业中使用有机溶剂的杂质

• NexION 300S ICP-MS测定半导体级TMAH中的杂质

  NexION 300S ICP-MS测定半导体级TMAH中的杂质

• NexION 300S ICP-MS测定半导体级硫酸中的杂质

  NexION 300S ICP-MS测定半导体级硫酸中的杂质

• NexION 300S ICP-MS测定硅晶片中的杂质

  NexION 300S ICP-MS测定硅晶片中的杂质

• NexION 300S ICP-MS测定半导体级硝酸中的杂质

  NexION 300S ICP-MS测定半导体级硝酸中的杂质