GBT 5170.10-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 高低温低气压试验设备

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标准编号:GB/T5170.10-2008中文标准名称:电工电子产品环境试验设备检验方法高低温低气压试验设备代替标准号:GB/T5170.10-1996电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法高低温低气压试验设备,标准简介:本部分规定了高低温低气压（含低气压、低温低气压和高温低气压）试验设备的检验项目、检验用主要仪器及要求、检验负载、检验条件、检验方法、数据处理结果与检验结果、检验周期等内容。本部分适用于对GB/T2423.21《电工电子产品基本环境试验规程试验M:低气压试验方法》、GB/T2423.25《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温/低气压综合试验方法》和GB/T2423.26《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM:高温/低气压综合试验方法》所用试验设备的首次检验/验收检验和周期检验。本部分也适用于类似试验设备的检验。国际标准分类号:19.040ZG标准分类号:K04标准状态:现行标准目录:前言Ⅲ1范围12规范性引用文件13术语和定义14检验项目15检验用主要仪器及要求26检验负载27检验条件28检验方法29数据处理结果与检验结果710检验周期7附录A（规范性附录）检验项目的选择8引用标准:下列文件中的条款通过GB/T5170的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本适用于本部分。GB/T2423.21电工电子产品基本环境试验规程试验M:低气压试验方法（GB/T2423.21-1993,NEQIEC60068-2-13环境试验第2-13部分:试验试验M:低气压:1983）GB/T2423.25电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温/低气压综合试验方法（GB/T2423.25-1992电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温／低气压综合试验,NEQIEC60068-2-40基本环境试验规程第2-40部分:试验试验Z/AM:低温/低气压组合试验修改1:1976）GB/T2423.26电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM:高温/低气压综合试验方法（GB/T2423.26-1992电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM:高温／低气压综合试验,NEQIEC60068-2-41基本环境试验规程第2-41部分:试验试验Z/BM:干热/低气压组合试验修改1:1976）GB/T5170.1-2008电工电子产品环境试验设备检验方法总则GB/T5170.2电工电子产品环境试验设备检验方法温度试验设备GB/T16839.1热电偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997热电偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995热电偶第1部分:参考表）IEC60751工业铂电阻敏感元件标准关注次数:49次标准上传日期:2010-2-23发布日期:2008-06-16实施日期:2009-03-01首次发布日期:1985-05-07英文标准名称:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Combinedhighandlowtemperature/lowairpressuretestingequipments采用国际标准:无标准类别:国家标准标准页数:16页主管部门:604-2ZG电器工业协会归口单位:469-8全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会起草人:伍伟雄、谢晨浩、蔡锦文、张孝华、罗军、薛秀美、孔玉梅、梁为旺、罗国良起草单位:信息产业部电子第五研究所
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