透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
- 上传人： |大小：289.15KB|浏览：5775次|时间：2016-05-09
-
- 文档简介
- 您可能感兴趣的资料
-
扫描电子显微镜图像系统改造方法
-
扫描电子显微镜各类附件原理及应用
-
环境扫描电子显微镜的成像特点
-
电子显微镜技术
-
微化石研究之电子显微镜观察的应用例
-
主动隔振台在电子显微镜中应用
-
透射电子显微镜生物制品制备技术
-
Seron台式桌上型扫描电子显微镜SEM产品样册
-
Seron台式桌上型扫描电子显微镜SEM产品样册
本标准规定了用透射电子显微镜对薄晶体试样微米级区域进行选区电子衍射分析的方法。本标准适用于各种金属与非金属晶体薄膜（包括粉末试样与萃取复型试样）的电子衍射分析。可分析的Z小试样区直径为1 μm。应用电子衍射谱可以获得试样晶体对称性、点阵常数和布拉菲格式类型等数据。利用已知晶体薄膜的电子衍射谱可以测定透射电子显微镜的衍射常数。被分析试样区直径小于1 μm时，可参照执行。
被GB/T 18907-2013代替
标签：
