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仪器网/ 技术资料/ 视频资料/ 技术教学/ 课程学习/TESCAN All in One 在材料领域综合解决方案
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随着科研的深入及学科的交叉,常规扫描电镜系统无法满足科研工作者日益提升的分析需求。借助其它分析系统所得的数据,和电镜系统的数据往往非同时同位。TESCAN提出了All-In-One的综合解决方案,在常规的SEM系统上,增加Raman Spectrum Image以及TOF-SIMS和AFM等多种表征系统,可以极大的提升扫描电镜系统的原位综合分析能力,做到所见即所得。

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