- 来源:高德英特(北京)科技有限公司 浏览量:173次
- 由【高德英特(北京)科技有限公司】举办的【开讲通知|TOF-SIMS第三课:样品制备、测试和分析过程演示以及数据分析】将于【2020-03-26】在【北京 海淀区 中关村大街45号兴发大厦408室】召开,主讲人【张薰匀博士】,欢迎业内人员踊跃参加!
大家期待已久的
TOF-SIMS专题讲堂的第三课
终于要来啦!
本期讲堂第三课,邀请了ULVAC-PHI原厂应用科学家张薰匀博士来为大家讲解“TOF-SIMS的样品制备、测试和分析过程演示以及数据分析”的课程。各位小伙伴们,一定,一定不要错过哟! 3月26日 14:00 不见不散(o°ω°o)
- 2020-03-25 17:34:00
- 随时了解更多仪器资讯,求购、招标、中标信息实时更新,厂商招商信息随时看。大量、齐全、专业的仪器信息尽在仪器网(yiqi.com)。扫一扫关注仪器网官方微信,随时随地查看仪器用户采购、招标需求!
- 收藏(0) 赞(0) 踩(0)
开讲通知|TOF-SIMS第三课:样品制备、测试和分析过程演示以及数据分析
版权与免责声明
①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布,观点仅代表作者本人,不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们立即通知作者,并马上删除。
②凡本网注明"来源:仪器网"的所有作品,版权均属于仪器网,转载时须经本网同意,并请注明仪器网(www.yiqi.com)。
③本网转载并注明来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。
④若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi