【SPARK网络研讨会】信息显示技术的过程测量、故障分析和研发解决方案

“信息显示技术的过程测量、故障分析和研发解决方案”网络研讨会

2021年10月27日上午10点(北京时间)

从 VR 眼镜到电视屏幕，显示屏在您的用户体验中发挥着至关重要的作用。

提高显示质量和光转换效率，同时继续提高产量并降低生产成本，这对于支持不同行业的新外形规格和新应用领域至关重要。为了实现这些目标，显示屏公司面临着与材料研发、过程控制和故障分析 (FA) 相关的新挑战。

参加我们的网络研讨会即可了解以下内容：

●信息显示技术及其独特的过程测量、故障分析和研发挑战

●有关赛默飞世尔科技解决方案的信息，以应对过程测量、故障分析和研发挑战

主讲人

顾晓汀

博士，现任于赛默飞世尔科技公司半导体事业部产品市场经理

拥有半导体加工，微电子，电镀和物理冶金等行业丰富的工作经验。他拥有超过10年的FIB/SEM双束电镜及透射电镜产品应用经验，曾任赛默飞世尔科技公司高级应用开发工程师，以及美国泛林公司(Lam Research)制程工程师职位。已获得美国凯斯西储大学材料科学与工程硕士与博士学位及约翰卡罗尔大学创新领域工商管理硕士学位。

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