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• 2023-02-01 15:04发布了问答

  GOM三维扫描测量仪为航空安全把关

  全场3D测量以及正确软件的使用对于此类严格的任务至关重要。GOM三维扫描仪(隶属蔡司集团)为客户提供在生产制造及价值链中的质量解决方案。　　01　涡轮叶片的应用　　涡轮叶片是现代航空发动机重要的零部件。它在极端环境下工作。由于涡轮叶片的形状决定了能源效率、气流和推力，任何表面或尺寸缺陷都可能导致叶片失效，终导致发动机故障。　　使用三维测量系统　　ATOS ScanBox BPS进行检测　　ATOS ScanBox BPS三维测量系统将快速精确的ATOS ScanBox系统和专用于复杂翼型检测的ATOS 5 for Airfoil 测头与自动化BPS批处理系统相结合。　　这一标准化测量设备可连续对多达80个涡轮叶片批次进行全自动数字化。每个部件所需时间不到三分钟，由BPS系统自动上下料。生成的高分辨率点云是真实零件的数字孪生。　　GOM Blade Inspect软件　　GOM Blade Inspect 是一款功能强大的分析和检测软件，可分析来自接触式和光学测量系统的数据。用户使用GOM Blade Inspect 可评估任何涡轮机部件在其生命周期内任意阶段的状况，比如在设计阶段，制造阶段，日常维护，或是判断是否需要进行必要维修。　　GOM Blade Inspect 软件具有一系列为叶片和翼型检测量身定做的分析工具。软件自动提供传统的翼型检测，以及实际3D坐标和CAD数据之间的整体评估。　　02　风扇叶片的应用　　风扇叶片是现代喷气涡轮发动机真正意义上的动力来源，90%的发动机推力都来自于发动机前端的20-30个风扇叶片。其结构需要经过反复的高精度测量，以确保发动机的佳性能。　　您面对的任务　　风扇叶片通常厚度不一，缺乏对称性，且测量要求复杂，先进的叶片形态又采用碳纤维材料制成。这些因素综合起来给传统检测流程带来了巨大挑战。　　我们的解决方案　　ATOS技术采用高精度全场数据来评估气动效率并缩短生产时间。在ATOS蓝光技术和GOM Inspect软件的结合下，可以对从叶根到前缘及后缘的所有几何形状进行评估，即使是复杂的叶片设计也能够轻松完成。　　难以测量的区域的高精度测量数据　　单一和复合材料的风扇叶片测量(例如钛，铝，碳纤维合金材料)　　高速检测缩短生产时间　　将收集到的数据集中处理，用于空气动力分析模型、性能分析模型以及其他生产要求的分析模型中

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• 2023-02-01 15:04发布了技术文章

  GOM三维扫描测量仪为航空安全把关

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• 2023-02-01 14:59发布了技术文章

  蔡司扫描电子显微镜EDS能谱问题

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• 2023-02-01 14:56发布了问答

  蔡司激光共聚焦显微镜-微纳器件的表征分析

  对微纳器件进行表征时，常关注的便是器件的表面形貌和三维尺寸信息，比如粗糙度、深度、体积等，这些都是评价微纳加工工艺的重要指标。然而，在进行表面三维的分析工作中，我们可能常遇到这样的苦恼：　　光学明场无法直接定位到亚微米级缺陷结构!　　样品结构太复杂，微弱信号无法捕获，难以准确测量尺度信息!　　三维接触式测量经常会损伤柔软样品，导致测试结果不准确!　　今天，友硕小编将从下面几个角度来看看蔡司激光共聚焦显微镜如何帮助你更好地解决这些问题。　　失效分析：多尺度多维度原位分析!　　器件表面往往存在一些特殊的结构或缺陷，比如亚微米尺度的划痕，这些特征难以在光学明场下被直接观察到。C-DIC(圆微分干涉)观察模式可以让样品表面亚微米尺度的微小起伏都可以呈现出浮雕效果，帮助我们快速定位并开展下一步的分析工作。　　▲ 不同观察方式下晶圆表面缺陷　　在定位到感兴趣区域后，可以直接切换到共聚焦模式，进行表面三维形貌扫描，并进行尺寸测量及分析，无需转移样品即可完成样品多尺度多维度的表征。　　▲共聚焦三维图像及深度测量　　对于某些样品，暗场和荧光模式也是一种很好定位方法，表面起伏的结构在暗场下尤其明显，如蓝宝石这类能发荧光的晶圆，利用荧光成像也能帮助我们快速地定位到失效结构。甚至，共聚焦还可以和电镜或者双束电镜(FIB)(点击查看)实现原位关联，在共聚焦显微镜下进行定位后转移样品到电镜下进行更高分辨的表征分析。　　深硅刻蚀：结构深，信号弱，蔡司激光共聚焦显微镜有办法!　　深硅刻蚀的样品通常为窄而深的沟壑结构。接触式测量(如台阶仪)无法接触到沟壑底部测得信息，而由于结构特殊造成了反射光信号损失，常规白光干涉或者显微明场无法捕获底面的微弱信号。因此，不得不对样品进行裂片分析，这不仅破坏了样品，而且还使分析流程复杂化。　　西湖大学张先锋老师用蔡司激光共聚焦显微镜对深163.905 μm，宽3.734μm的刻蚀坑进行成像，高灵敏探测器、大功率激光及Z Brightness Correction技术可以帮助成功检测到底部的微弱信号，完成大深宽比(近50：1)样品的三维形貌表征与测量，轻松实现无损检测分析。

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• 2023-02-01 14:56发布了技术文章

  蔡司激光共聚焦显微镜-微纳器件的表征分析

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• 2021-02-23 17:30发布了问答

  蔡司三坐标测量结果的稳定可靠

  众所周知，温度对三坐标测量机及其它的测量设备的稳定性、测量结果的可靠性都有影响，虽然蔡司三坐标测量结果可以进行温度补偿。而温度的变化，如温度随时间以及空间的变化对测量精度的影响是很难进行修正的。 　　▲表一：常见材料的热膨胀系数　　 　　▲表二：不同机型对温度的要求　　测量实验室的理想温度通常为20°C。温度波动会导致材料膨胀或收缩。越是对坐标测量机准度要求高，温度的影响就越显着。　　通过表一和表二可见，不同的材料，由于其热膨胀系数不同，温度测量结果的影响是很大的。　　

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• 2021-02-23 17:30发布了技术文章

  蔡司三坐标测量结果的稳定可靠

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• 2021-02-23 17:16发布了问答

  蔡司场发射扫描电子显微镜灵活的探测

  蔡司场发射扫描电子显微镜主要优势有：灵活的探测，4步工作流程，的分析性能将的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提效率。Sigma 300 性价比高。Sigma 500 装配有的背散射几何探测器，可快速方便地实现基础分析。任何时间，任何样品均可获得可重复的分析结果。蔡司场发射扫描电子显微镜是基于成熟的 Gemini 技术Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的影响，并将场对样品的影响降至更低。这使得即使对磁性样品成像也能获得出色的效果。Gemini in-lens 的探测确保了信号探测的效率，通过二次检测(SE)和背散射(BSE)元件同时减少成像时间。Gemini 电子束加速器技术确保了小的探测器尺寸和高的信噪比。本文有蔡司显微镜厂家小编Pancy整理，更多关于蔡司场发射扫描电子显微镜相关的咨询

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• 2021-02-23 17:16发布了技术文章

  蔡司场发射扫描电子显微镜灵活的探测

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• 2021-02-23 16:58发布了问答

  ZEISS T-SCAN手持激光扫描仪

  这种直观的报告在ZEISS T-SCAN手持激光扫描仪执行的重要测试中有很大的帮助：可以将现有产品迁移至新的机器人磨削系统。在KWC，员工无需再像以前一样手动磨削和抛光铸件，机器人夹持铸件后，可以在快速旋转的磨削带上将铸件磨削至正确的尺寸并进行抛光处理。借助ZEISS T-SCAN的持续性测量以及对磨削参数的实时调整，磨削机器人现在可以准、快速地工作。由于工厂的内部产能无法满足需求，KWC还会将部分磨削加工外包至外部一些规模较小的公司。在接收过程中，KWC会使用ZEISS T-SCAN进行样品抽检。　　外形准：Agim Emini使用ZEISS T-SCAN对模具进行严格的测试，铸造过程中，这些模具会将熔化的 黄铜成型为水龙头。　　自动化磨削和抛光系统将铸件加工至正确的尺寸并抛光。ZEISS T-SCAN在系统校准中发挥了重要的作用。　　使用ZEISS T-SCAN手持激光扫描仪，我们可以轻松验证错误是出现在磨削和抛光环节，还是铸造车间。—— Agim Emini　　订单接踵而至　　“在瑞士，大家的质量意识都比较强，但是很多公司，通常是小公司，还是会在纸质文件中进行数据记录。现在，这种现象已经开始发现变化”，Reto Wirth说，Franke Water Systems KWC是他的一家客户。为展示无缝数字化文档在生产中的优势，在蔡司测量技术100周年庆祝活动中，他邀请Agim Emini参加了在费尔德巴赫蔡司瑞士分公司的一次演示。　　Reto Wirth预计很快就将收到Agim Emini的下一个订单。Agim Emini希望用ZEISS CONTURA三坐标测量机替代两台老旧的三坐标测量机。此外，质量团队还购买了ZEISS Smartzoom数字显微镜。“我们使用显微镜检测金属结构中用肉眼看不到或很难发现的缺陷”，KWC表面负责人Michael Wage说道。在这一方面，蔡司产品的表现同样满足甚至超出了这位部门经理的预期。对于Agim Emini而言，蔡司是不可替代的：“在我看来，蔡司是测量技术领域的**者。

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• 2021-02-23 16:58发布了技术文章

  ZEISS T-SCAN手持激光扫描仪

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• 2021-02-23 16:02发布了问答

  蔡司电子显微镜纳米级颗粒度分析解决方案

  　蔡司光学显微镜图像对零配件和生产过程进行清洁度检测时，需要确保机械组件在无摩擦状态下工作。必须避免因裂纹引起的泄漏，减少喷嘴和过滤器堵塞以及防止泵和阀门发生故障。　　降低维护成本和缩短机器设备停机时间。 　　电子显微镜图像全自动纳米级颗粒度分析软件 —— 蔡司 SmartPI　　利用电子显微镜分析滤膜上多达 200,000 个颗粒，并可选择地了解材料的化学组份信息 – SmartPI 让这一切的全自动化运行得以实现。 　　光学显微镜和电子显微镜的叠加图像(包含 EDX 分析)蔡司关联颗粒度分析能够在光学和电子显微镜下快速测量与分析多达 200 个关键颗粒并表征它们 — 快速。这套用于颗粒度 EDS 分析的 Correlative Particle Analyzer 系统符合 ISO 16232 和 VDA19 标准。

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• 2021-02-23 16:02发布了技术文章

  蔡司电子显微镜纳米级颗粒度分析解决方案

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