绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统 核心参数
分类: | 接地电阻 |
详细介绍
绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统
面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装,因结露吸湿等因素造成的绝缘bu良现象暨离子迁移现象日益突出,绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统配之以高温高湿试验箱联动,可高精度连续监测,gao效简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。适用标准:JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。
高精测量
自主开发连续通电扫描继电器方式,配备国际标准的测量仪表,与环境试验箱联动,操作更简便更安全。
应力电压范围广泛
标配100V应力电压(应力电压/测量电压),更有300V、500V高电压规格备选。
连续通电扫描方式
ESPEC具有扫描动作技术,切换扫描时不发生无电压状态,测量电压与偏置电压均使用同一电压源控制,可准确控制电压。
漏电流检测功能
高速准确捕捉离子迁移现象发生的细微变化,离子迁移实时监测。
专用统计软件
[E-Graph]可实时编辑预览监测实时获得的数据。
专用连接样件夹具
选配可使连接样品及线缆更方便,试验效率更高。
产品优势
绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统
面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装,因结露吸湿等因素造成的绝缘bu良现象暨离子迁移现象日益突出,绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统配之以高温高湿试验箱联动,可高精度连续监测,gao效简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。适用标准:JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。
面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装,因结露吸湿等因素造成的绝缘bu良现象暨离子迁移现象日益突出,绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统配之以高温高湿试验箱联动,可高精度连续监测,gao效简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。适用标准:JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。
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