详细介绍
余弦校正辐射探头是一种用于光谱辐射测量的光学元件，用于收集180°立体角内的辐射光信号，从而消除了其它取样装置中光线收集装置几何结构中的光学接口问题。
LS-CC余弦校正辐射探头采用反射率＞98%spectralon漫反射射材料，实现200-2500nm辐射光谱测量。我们提供两种余弦校正辐射探头一种是通过SMA接头光纤连接光谱仪，另外一种是直接耦合到光谱仪的SMA接口上。莱森光学的余弦校准辐射探头与光谱仪配合使用时，可以用来测量UV-A和UV-B太阳辐射、环境光、灯光和其它发光光源。
余弦校正器 |
主要技术参数
型号 | LS-CC-UV/NIR/ LS-CC-UV/nir |
漫散材料 | Spectralon（200-2500 nm），反射率＞98% |
直径 | 3.9mm-10mm |
接收角度 | 接收来自180°立体角的光 |
接头 | SMA 905 |
产品优势
余弦校正辐射探头是一种用于光谱辐射测量的光学元件，用于收集180°立体角内的辐射光信号，从而消除了其它取样装置中光线收集装置几何结构中的光学接口问题。
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莱森光学（深圳）有限公司
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