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当前位置:首页>产品中心>显微熔点仪SGW®X-4A 物光数显熔点仪
显微熔点仪SGW®X-4A  物光数显熔点仪
  • 品牌:上海仪电物光(申光)
  • 型号: SGW®X-4A
  • 产地:美国
  • 样册:暂无
  • 供应商报价: 面议
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显微熔点仪SGW®X-4A 物光数显熔点仪 核心参数
仪器种类: 台式 自动化: 手动
详细介绍

  产品名称:显微熔点仪  

  产品型号:SGW®X-4A  

     

  SGW®X-4A显微熔点仪产品特点:  

  测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。  

     

  显微熔点仪SGW®X-4A主要技术参数:  

  熔点测量范围:室温至320℃  

  测量重复性:±1℃ (在<200℃ 时)  

              ±2℃(在20 .0℃ 一320℃  时)  

  温度显示最小值:0.1℃  

  熔点观察方式 单目显微镜  

  光学放大倍数 40×  

   

                                                       

 

  产品名称  

 
 

  型号  

 
 

  技术参数  

 
 

  显微熔点仪(数显)  

 
 

  SGW®X-4  

 
 

  范围:室温~320℃,最小读数单位:1℃,  

 

  重复性:±1℃(<200℃),±2℃(≥200℃)  

 
 

  显微熔点仪(数显)  

 
 

  SGW®X-4A  

 
 

  范围:室温~320℃,最小读数单位:0.1℃,  

 

  重复性:±1℃(<200℃),±2℃(≥200℃)  

 
 

  显微熔点仪(数显)  

 
 

  SGW®X-4B  

 
 

  范围:室温~320℃,最小读数单位:0.1℃,  

 

  重复性:±1℃(<200℃),±2℃(≥200℃)  

 

  双目体式显微镜,光学放大倍数:40倍-100倍  

 
 

  滴点软化点测定仪  

 

  (程控、液晶数显)  

 
 

  WQD-1A  

 
 

  范围:室温~300℃  

 

  最小读数单位:0.1℃  

 


   


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