Spectra S/TEM 扫描透射电子显微镜

• 更高亮度的电子源：特别明亮的冷场发射枪（X-CFEG）是一种提供更高对比度成像的新技术。对于化学分析和X射线分析，它提供的信号是当前一代TEM中传统CFEG源的两倍以上，空间分辨率高出10％以上。结果是更高质量的成像和分析以更高的分辨率，允许用户检查更广泛的材料。

  
  

• 更简单的电气特性分析：新的X-FEG/Ultimono光源允许研究人员和工程师并行生成复杂的高能量分辨率数据，而不是为此单一目的专用单独的工具。这有助于加速新材料的开发，因为研究人员将更好地了解与其他关键属性平行的电学行为。

  
  

• 高动态范围映射：电子显微镜像素阵列检测器（EMPAD）是一种高速像素化STEM检测器，允许研究人员执行大量高级应用，如Ptychography，用于超高分辨率和信号的用户分段。这有助于揭示对于新材料和工艺的开发至关重要的更多属性。

Spectra 300包括三种光源选项：XFEG Mono，X-FEG UltiMono和X-CFEG，专为最广泛的样品进行极端原子级成像和分析而设计。Spectra 200提供200 kV X-CFEG，是高对比度成像和化学分析的理想选择。