Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪 核心参数
| 厚度范围: | 0-38um | 分辨率: | 0.01mils(0.1um) |
| 响应时间: | 1s |
详细介绍
Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪
深圳市方源仪器有限公司提供Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪，这款测厚仪是紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位的电涡流技术，CMI243手持式测厚仪易于用户控制，并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性媲美。为了让客户能以低成本购买，CMI243免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。
可无损伤地检测磁性金属基铁（如：铁、钢、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如：锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）。单用测厚仪广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。符合GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度的测量。便携设计，手掌大小，采用高速的DSP芯片，具有快速的测量能力；人性化设计，简单操作。
产品名称 | 膜厚仪CMI243 |
型号 | CMI243 |
品牌 | 英国牛津仪器Oxford |
用途 | 专门为测量磁性金属上的 ( 如锌、镍等 ) 涂镀层厚度而设计的便携式膜厚仪 |
测试原理 | 独特的涡电流测试方法 |
测量范围 | 0.08-1.50mils(2-38um) |
测量精度 | ±1% |
分辨率 | 0.01mils(0.1um) |
探头 | ECP-M锌镍均可测量 |
单位 | 公、英制可以转换（mils、um） |
统计数据显示 | 读取次数、平均值、标准差、最高值、zuidi值、值 |
接口 | RS-232 |
显示 | 液晶显示，字符高12.7mm |
按键 | 16键 |
执行标准 | ASTM B244-B259;DIN 50984;ISO 2360;ISO29168(DRAFT);BS 5411 |
记忆储存 | 12400个数据 |
重量 | 260g(含电池) |
外型尺寸 | 14.9X7.94X3.02cm |
电池 | 9V电池(周) |
产地 | 美国 |
产品优势
深圳市方源仪器有限公司提供Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪，这款测厚仪是紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位的电涡流技术，CMI243手持式测厚仪易于用户控制，并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性媲美。为了让客户能以低成本购买，CMI243免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。
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