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新型电子探针显微分析仪 JXA-iHP200F and JX

发布:捷欧路(北京)科贸有限公司
浏览次数:785

    新型电子探针显微分析仪 JXA-iHP200F and JXA-iSP100发布
    - 更先进的集成化EPMA -


    日本电子株式会社(JEOL Ltd.,总裁:大井 泉)宣布于2019年11月推出新型肖特基式(Schottky)场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F和新型钨/ LaB6电子探针显微分析仪JXA-iSP100.

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    开发背景

    电子探针显微分析仪(EPMAs)作为研究和分析工具被广泛用于钢铁、汽车、电子零件和电池材料等工业领域。此外,在学术领域 ,EPMAs用于地球空间科学、材料科学领域,不仅涵盖矿物能源研究,而且涉及新型材料研究,从而为各种前沿研究做出贡献。随着EPMA应用的增加,EPMA用户需要具有高度可操作性的简单快速的分析,同时也要在特定感兴趣区域保持高质量的痕量元素分析性能。为满足这些需求,从观察(光学和SEM图像)到分析,JXA-iHP200F和JXA-iSP100均支持与波谱仪(WDS)、能谱仪(EDS)、阴极发光(CL)及其他技术的无缝集成。

    主要特性

    集成EPMA可实现简单快速的操作

    1.  高通量

    任何人都能高精度无缝操作,从试样交换到微区确定。

    2.  高准确度分析

    任何人都能够在短时间内获得高质量的分析数据。

    3.  易于维护

    由于仅在需要时才自动执行维护,因此每个人都可以将EPMA系统维持在**状态。

    JXA-iHP200F和JXA-iSP100均具有高度可扩展性,能配备WDS和EDS系统,还可配备做化学价态分析的软X射线发射分光仪(SXES)、做晶体取向分析的电子背散射衍射系统(EBSD)、以及阴极发光检测器(CL)。

    Note: EPMA 是“Electron Probe Microanalyzer”的缩写.

    年度销售目标70台


2020-01-10
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