JEM-ACE200F GX分析型电子显微镜 核心参数
| 电子枪: | 场发射 |
详细介绍
◇ 装置主体
● 可配置Cs校正器和CFEG
● 高速高精度的stage 与现有的马达驱动控制相比速度上提高了3倍、具备与Piezo驱动控制同等效力的微动控制能力。
◇ 操作简单
● 即使TEM的操作经验少也能直接操作设备
· 大量减少使用操作盘，直接按顺序点击显示画面上的按钮就能得到的图像
· 也可以用鼠标来进行调焦等操作
· 可以兼容GATAN CCD
● 自动调整功能
· 自动聚焦、自动调整样品高度、自动电子束传递、自动定位等
◇ 自动获取数据的功能
●按照操作菜单可自动获取数据
· TEM像、STEM像、元素面分布
· 可以对应栅格上的多个样品
◇ 和测长软件链接
● 在TEM上设定倍率可以对其他倍率进行校正
· 可以对多台JEM-ACE200F取得的数据自动测长
◇ 远程操作
● 可在隔壁房间操作设备
● 远程操作及多地同时观察（依赖于网络环境）
· 可与多个事务所一边讨论一边观察
◇ 封闭鏡筒，使环境耐受性提高
● 噪音、气流、室温变化得到了YZ
● 内壁装有吸音材料，可进一步防噪音
◇ 从分析仪器到分析工具
－STEM/TEM分析自动化、改进操作流程、品质管理稳定提高－
产品优势
JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起，实现了高度稳定性和高分辨率，以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单，按照该菜单，操作人员即使不直接操作设备也能采集到数据。
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