分子束外延沉积速率监测/控制系统 核心参数
| 仪器分类: | 四极杆 | 质量范围: | 0~ 510amu |
详细介绍
产品简介
XBS三级滤过四极质谱(MBE Deposition Rate Monitoring / Control System)，适于精确的MBE分析，其他气体分析和科学实验使用。Windows 界面的MASsoft软件通过RS232、RS485 或以太网控制。
功能特点
离子源控制，用于软离子化和表观电势质谱
灵敏度增强用于大质量数的传输，自动质量数范围列表
一级过滤处增加射频，抗污染物能力增强
内置UHV 兼容的水冷却罩
技术参数
灵敏度高，检测范围： 100% 至5ppb
质量数范围： 0~ 510amu
长期稳定性： 24h以上，峰高变化小于±0.5%)
交叉离子源，束接收角同轴的横断面呈 ±35°
2mm 束接受孔，也可为特殊使用者配置
分子束研究中，检测极限低至30 ions/s
监测生长速率： 1Å / min，或更低
