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表面及介孔分布测定仪 产品简介： 四个独立工作站，可同时进行4个样品的比表面或介孔孔径精确分析。 技术参数： 测试原理：静态容量法，低温氮吸附（或其他吸附气体）

#13; 产品简介： 由我公司自主研发的国内首台研究型、高性能静态容量法微孔分析仪JW-BK132F诞生于2010年，该款仪器完全继承了BK系列孔径分析仪的所有技术特点，核心硬件全部采用

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表面积仪 JW-BK132F型高性能研究级比表面积仪，完全继承JW系列孔径分析仪所有技术特点，自主独特创新。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品牌，配备有“涡轮分子泵”及1torr小量程压力传感器，配

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自动孔径分布测试仪 JW-BK200A型多功能双站全自动孔径分布测试仪，是JW-BK222仪器升级后的一款多功能型、高效型物理吸附仪，集同位异位脱气于一体，双站并列独立运行。仪器重要硬件全部采用国际

典型比表面及孔径分析仪Surface area and pore size analyzerJW-BK112经典型全自动比表面及孔径分析仪，诞生于2007年，经过不断创新与发展，产品综合性能更加完善，

表面及微孔分析仪 JW-BK122W型经济型静态比表面及微孔分析仪，JW发明ZL，完全继承JW系列孔径分析仪所有技术特点，自主独特创新。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品牌，配备有“二级吸附泵技术”

精密三站并列式全自动介孔微孔分析仪 JW-BK300系列高精密三站并列式全自动介孔微孔分析仪，在JW系列孔径分析仪的基础上，自主研发的新一代高端微孔分析仪。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品牌，配备

速BET比表面仪 JW-DX型动态吸附比表面测定仪，JW发明ZL，创新的结构，每个样品单独吸附，互不干扰，吸附峰尖锐，灵敏度大大提高，通过吸附峰直接对比得到比表面，测试准确、稳定，比表面下限降低一个

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品简介： 全新设计，外观可人，专业的多功能介孔分析仪，人性化的选择，国内外产品！ 由我公司自主研发的国内**的炭黑专用外表面测定仪JW-STSA系列诞生了！该系列仪器完全继承