日立荧光新技术讲座开讲啦！

       日立经典款荧光分光光度计于2019年10月推出全新附件：荧光分布成像系统(EEM View)。它拥有行业SC的技术，同时分析荧光光谱和反射光谱，将样品的光谱信息可视化，同时获得更加细致的光谱信息。

       为让客户更好的了解这项新技术，“荧光分布成像系统"全国巡回讲座于今天正式启动，我们为大家带来：

• 荧光分布成像新技术介绍

• 新产品结构解析

• 应用实例介绍

• 现场操作演示

• ？告诉我们更多感兴趣的问题吧

扫码报名

新技术讲座会经过山西、河北、北京、天津、南京、杭州、福州等十几个城市。

想让你所在的城市也加入吗？你可以做主！

扫描文末二维码，填写信息，即可报名哦~

除了专业有趣的知识，我们还准备了精美纪念品，立即锁定座位吧！

（来源：日立仪器（上海）有限公司）