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快来报名,就在明天!冲破你和数据间的障碍:XRF镀层分析的未来!
发布:日立分析仪器浏览次数:216据统计,平均 72% 的镀层分析时间浪费在 XRF 仪器设置中。从选择设置和确定样品分析位置,到处理和导出数据以做出决策,XRF 分析过程可能既耗时又令人懊恼。
因此,是时候做出改变了。
各就各位,预备!
4月28日,我们将翻开XRF镀层分析的新篇章。快准备好冲破您和您的数据之间的障碍,把业务驶向快车道。 在这次的全 球线上新品发布会中,我们的团队将向您展示:
如何借助日立的新技术,更快完成每一次镀层分析
如何让您的分析数据更快付诸实践
XRF的未来,还能如何更加智能至简
2022-04-27 -
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