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日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪
  • 品牌:日立
  • 型号: FT110A
  • 产地:日本
  • 样册:下载
  • 供应商报价: 面议
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详细介绍

概要

自1978年以来取得傲人销量的X射线荧光镀层厚度测量仪的第八代产品FT110A。在测量精度、操作性能、软件上有新的优化。

通过自动定位功能,只需把样品放在样品台上,便能在数秒内自动对准观察样品焦点,省略了以前手动逐次对焦的操作,大幅提高了测量效果。


型号名称:FT-110A

测量元素:原子序数22(Ti)~83(Bi)

检测器:比例计数管

X射线管:管电压:50kV 管电流:1mA

准直器:4种(Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm)

样品观察:CCD摄像头(可进行广域观察)

X-Ray Station:电脑、19英寸液晶显示器

膜厚测量软件:薄膜EP法、标准曲线法

测量功能:自动测量、中心搜索

定性功能:KL标记、比较表示

使用电源:220V/7.5A


特长:

1.自动对焦功能 自动接近功能
在样品台上放置各种高度的样品时,只要高低差在80mm范围内,即可在3秒内自动对焦被测样品。由此进一步提高定位操作的便捷性。

●自动对焦功能 简便的摄像头对焦

●自动接近功能 最适合位置的对焦


2.通过新 薄膜FP法提高测量精度

实现微小光束的高灵敏度,通过微小准直器提高了膜厚测量精度。镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2。另外,针对检测器的特性开发了新的EP法,可进行无标样测量。测量结果可一键生成报告书,简单方便。

●新 薄膜EP法

减少检量线制作的繁琐程度、实现了设定测量条件的简易化

无标样测量方法可进行最多5层的膜厚测量

●自动对焦功能和距离修正功能

凹凸落差的样品可通过薄膜EP法做成的相同测定条件进行测量

●灵敏度提高

镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2

●生成报告功能

一键生成测量报告书


3.广域样品观察

对测量平台(250mm*200mm)上放置的样品拍摄一张静态画面后,可在获取的广域观察图像上指定狭域的观察位置。由此,可大幅减少多数测量点位置的选取时间,以及在图像上难以寻找的特定点位置的选定时间。

●广域图像观察轻松定位



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