-
金牌会员 第 10 年
日立分析仪器（上海）有限公司
认证：工商信息已核实
- 产品分类
- 品牌分类
-
仪企号
日立分析仪器
-
友情链接
-
解决方案
-
利用FT150h测量陶瓷芯片部件中Sn/Ni 双层膜
发布：日立分析仪器（上海）有限公司浏览次数：2471FT150h配备了新型聚光光学系以及升级后的Vortex?检测器，对于从前机种难以测量的微小范围，实现了同时高精度测量更厚的Sn与它下面的Ni，此份资料中介绍了针对陶瓷片式原器件的疑似样品，Ag上的Sn/Ni双层膜的同时测量的案例 日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪
2016-05-16相关产品 -
免责声明
①本网刊载上述内容，并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任
②若本站内容侵犯到您的合法权益，请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱：hezou_yiqi
沪公网安备 31011502008050号