镀层厚度测量仪

我们的厚度测量仪器提供可靠、简单的操作以及准确的测量。 具有功能强大，用户界面良好，从初级水平到双重技术的可扩展型等系列产品可供选择。

FT160 台式 XRF 分析仪旨在测量当今 PCB、半导体和微连接器上的微小部件。准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。

FT110A 是一款台式 XRF 分析仪，旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合，有助于提高电镀车间的生产力，同时确保组件符合Z高标准。

X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 分析仪，具有多种选择，可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的镀层，是必须确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析的理想选择。

• 快速分析：自动聚焦加快样品装载速度，即使在不同形状和尺寸的 组件之间切换时依然如此。 • 快速设置：智能识别功能 Find My Part™(查找我的样品) 会自动选择 ...