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北京理化赛思科技有限公司
主营产品:X射线衍射仪,X射线应力仪,X射线定向仪,同步热分析仪,DSC/DTA
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QL转靶组合式多功能X射线衍射仪TTRIII系列
  • 品牌:日本理学
  • 型号: TTR III系列
  • 产地:日本
  • 样册:暂无
  • 供应商报价: 面议
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详细介绍

仪器简介:

QL转靶组合式多功能X射线衍射仪TTRIII系列是当今最次的商品化X射线衍射仪。

QL转靶组合式多功能X射线衍射仪TTRIII系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学duchuang的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。


主要特点:

QL转靶组合式多功能X射线衍射仪TTR III系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

技术参数

1. X射线发生器功率为旋转阳极QL转靶18KW
2. 测角仪为水平测角仪
3. 测角仪最小步进为1/10000度
4. 测角仪配程序式可变狭缝
5. 高反射效率的石墨单色器
6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学独有)
7. 小角散射测试组件
8. 多用途薄膜测试组件
9. 微区测试组件
10. In-Plane测试组件(理学独有)
11. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC
12. 分析软件包括:XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等

主要的应用有:
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld结构分析
5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析

技术文档
仪企号 
北京理化赛思(日本理学产品代理)
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