R9扫描探针显微镜控制器

作为上扫描探针显微镜控制器制造商，美国RHK公司推出了革命性的新一代扫描探针显微镜控制平台R9：
> 它采用了全数字化的硬件系统，噪音极低，性能优异
> 单独的R9 SPM控制平台可以实现所有的STM、AFM和KFM等功能
> IHDLTM软件系统可以轻松实现对硬件和实验过程的定义与编辑，其独特的设计思路和开放性的软/硬件配置为研究领域的拓展奠定了坚实的基础 

极低噪音与超高稳定性！

开放性与灵活性极高！
	HDLTM软件界面    R9扫描探针显微镜控制平台采用了RHK独有的IHDLTM图像化硬件描述与编辑软件，通过简单的“拖放”操作，即可完成对硬件和实验的所有设置。 同时IHDLTM全面兼容LabVIE和MATLAB，为实验的设计提供了无限的可能。   特制的硬件系统 采用RHK特制的且优化设计的硬件模块，利用RHK UltraDAC技术以极低的噪音水平对所有的信号进行数字化运算和处理。 硬件模块包括：PLLs, lock-ins, filters, amplifiers, phase shifters, counters等。   强大而优异的功能 将所有SPM的功能模式集中到一起，通过软件即可快捷的对硬件系统进行重新定义。 无需外界模块和设备可实现包括STM、dI/dV隧道谱、接触式&非接触式AFM、导电AFM、开尔文探针显微镜KFM、SNOM等功能。 兼容所有商业化的STM/AFM系统，并实现对他们的全面控制。

功能强大，性能可靠！
	> 支持所有的扫描探针显微镜操作模式，包括：STM、dI/dV谱、接触式和导电式AFM、非接触式AFM、开尔文探针KFM等。不需要添加任何外置设备； > 支持音叉式和微悬臂式AFM； > 支持所有非接触式AFM模式 -- PLL、Lock-in、Self Oscillation。接触式AFM模式 -- Constant Excitation、Constant Signal和Q-control等。采用全数字式Phase Shifter，保证了系统的稳定性；； > PLL和Multiple Lock-in通道一起使用，可以同时采集多个谐频信号； > SNOM：多个高速输入通道可以同时对表面成像，并采集光学信号（模拟或脉冲计数）； > KFM：无需添加任何外置的设备，即可完成KFM实验； > 全面兼容LabVIEW和MATLAB等语言与程序；